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二氧化硅_60676-86-0
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二氧化硅

H17189-50g Silicon dioxide {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 60676-86-0 50g {{goodObj.date}} 万佳 {{item.norm}} SP ≥99.9% {{inventory}}
二氧化硅介绍:

【产品编号】H17189-50g

【CAS.编号】60676-86-0

【中文名称】二氧化硅

【英文名称】Silicon dioxide

【标准值】SP ≥99.9%

【产品规格】50g

【主要用途】

【保存条件】

【注意事项】

二氧化硅相关产品:
标物编号产品名称CAS NO标准值规格价格库存有效期至
H17503
二氧化硅
60676-86-0
99.99% metals basis,粒径:5um
100g
132现货
H17503-25g
二氧化硅
60676-86-0
99.99% metals basis,粒径:5um
25g
52现货——
H17189-10g
二氧化硅
60676-86-0
SP
10g
60现货——
H17189-50g
二氧化硅
60676-86-0
SP ≥99.9%
50g
120现货——
BW00773a-9
水中二氧化硅
——
10μg/L
100mL
160≥52025-10-15
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水中二氧化硅
——
500μg/mL
50mL
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水中二氧化硅
——
80μg/L
100mL
160≥52025-10-15
BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
20mL
3032026-03-06
BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
50mL
6032026-06-23
BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
1L
90022026-06-24
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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

GB/T 20020-2013 气相二氧化硅
标准名称及标准号GB/T 20020-2013《气相法二氧化硅》
适用范围适用于气相法制备的纳米级二氧化硅,用于橡胶、涂料、油墨等领域的质量检测
核心检测方法氮气吸附BET法测定比表面积(5.2条款),灼烧减量法测定水分及挥发物(6.3条款),X射线荧光光谱测定杂质含量
检出限与定量限重金属杂质检测限0.5mg/kg(ICP-MS法),比表面积测定误差≤±5%,灼烧减量定量下限0.1%
质控样品要求每批次检测需包含空白对照、平行样(≥3个)及标准物质比对,平行样相对偏差应<10%
关键实验步骤1. 样品预处理需在105℃烘干至恒重
2. BET测试前需进行3小时脱气处理
3. 灼烧温度设定为1000℃±25℃保持2小时
特别说明样品吸湿性强,需在干燥箱内完成称量操作;比表面积测定时相对压力(P/P0)应控制在0.05-0.30区间

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