水中氨_单标_有机类_标准物质_萘析商城

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水中氨

BW57625-1

Silicon dioxide

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20mL

万佳

100μg/mL

常温避光

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水中氨介绍：

【产品编号】H17503

【CAS.编号】60676-86-0

【中文名称】二氧化硅

【英文名称】Silicon dioxide

【标准值】99.99% metals basis,粒径:5um

【产品规格】100g

【主要用途】

【保存条件】室温避光

【注意事项】

水中氨相关产品：

标物编号	产品名称	CAS NO	标准值	规格	价格	库存	有效期至
H17503	二氧化硅	60676-86-0	99.99% metals basis,粒径:5um	100g	132	现货
H17503-25g	二氧化硅	60676-86-0	99.99% metals basis,粒径:5um	25g	52	现货	——
H17189-10g	二氧化硅	60676-86-0	SP	10g	60	现货	——
H17189-50g	二氧化硅	60676-86-0	SP ≥99.9%	50g	120	现货	——
BW00773a-9	水中二氧化硅	——	10μg/L	100mL	160	≥5	2025-10-15
BW00773b-9	水中二氧化硅	——	80μg/L	100mL	160	≥5	2025-10-15
BW00773-1	水中二氧化硅	——	100μg/mL	20mL	30	3	2026-03-06
BW00773-5	水中二氧化硅	——	10μg/mL	100mL	130	3	——
BW00773-1	水中二氧化硅	——	100μg/mL	500mL	480	1	2026-04-14
BW00773-7	水中二氧化硅	——	20μg/mL	100mL	120	1	2026-04-07

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国家标准GB/T 30449-2013《纳米二氧化硅》解读

标准名称及标准号	GB/T 30449-2013《纳米二氧化硅》
适用范围	适用于粒径范围1-100nm的纳米二氧化硅粉体及分散液的理化性能检测，包括纯度、比表面积、团聚度等指标。

核心检测方法	① BET氮吸附法测比表面积 ② 激光粒度分析法测粒径分布 ③ X射线衍射法（XRD）鉴定晶型
检出限与定量限	比表面积检测限≥5m²/g，定量限≥10m²/g；XRD检测限≤3wt%非晶态杂质

质控样品要求

① 每批次需平行测定3组样品
② 相对标准偏差（RSD）应≤5%
③ 加标回收率控制在95-105%

关键实验步骤

1. 样品预处理：真空干燥4小时（60℃±5℃）
2. BET测试脱气条件：300℃脱气6小时
3. XRD扫描范围：10°-80°（2θ角）

特别说明	① 纳米材料易吸潮，需在干燥器保存 ② 激光粒度分析前需超声分散15分钟 ③ 禁止使用金属刮刀接触样品

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