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锗粉6N_
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锗粉6N

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锗粉6N介绍:

产品组成:
编号规格纯度
NCS1312粉末 200 目6N

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号
GB/T 11070-2006《高纯锗》
适用范围
本标准适用于纯度≥99.999%(6N)的高纯锗产品(包括锗粉、锗锭等形态)的质量控制。规定了6N级锗产品的主要技术指标、检测方法及验收规则,适用于半导体材料、红外光学器件等高端制造领域的原材料检验。
核心检测方法
1. 辉光放电质谱法(GDMS):主检测方法,用于测定24种痕量金属杂质
2. 低温傅里叶变换红外光谱法:检测碳、氧含量
3. 四探针电阻率测试:表征电学性能
4. 激光粒度分析:适用于锗粉的粒径分布检测
检出限与定量限
检测项目 检出限(ppb) 定量限(ppb)
Fe, Cu, Ni等金属杂质 0.01-0.1 0.1-1.0
氧含量 5 ppma 10 ppma
碳含量 0.05 ppma 0.1 ppma
*ppma表示原子浓度百万分之一
质控样品要求
1. 基体匹配:必须使用6N级锗基体验证样
2. 浓度梯度:包含空白样、0.1ppb、1ppb三水平
3. 均匀性:锗粉样品需过200目筛(≤74μm)
4. 稳定性:储存于充氩气的密封容器中,有效期3个月
5. 溯源性:需附带NIST可溯源证书
关键实验步骤
1. 前处理:锗粉在超净台中用高纯硝酸+氢氟酸(1:3)微波消解
2. GDMS校准:使用锗基体标准片进行仪器质量校正
3. 测试条件:射频功率35W,氩气流量350mL/min
4. 数据采集:每个样品积分时间≥45分钟
5. 背景扣除:同步测定试剂空白值
6. 结果验证:通过加标回收实验(回收率85%-115%)
特别说明
1. 环境要求:全程Class 10级超净实验室操作
2. 容器选择:使用PTFE消解罐和FEP储存瓶
3. 干扰控制:需监控镓(⁶⁹Ga)对锗(⁷²Ge)的质量干扰
4. 验收指标:6N级锗粉要求总杂质<1ppm,单个杂质<0.1ppm
5. 数据报告:必须包含测量不确定度(k=2)

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