氧化铪薄膜膜厚标准物质 Thin film thickness CRM of HfO2
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氧化铪薄膜膜厚标准物质 Thin film thickness CRM of HfO2
GBW13981 | 每包装为一片，20mm×20mm
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氧化铪薄膜膜厚标准物质 Thin film thickness CRM of HfO2
GBW13979 | 每包装为一片，20mm×20mm
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二氧化硅薄膜膜厚标准物质 Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si
GBW13957 | 外包装为铝箔真空袋，每包装为一片，20 mm乘以20 mm
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二氧化硅薄膜膜厚标准物质 Thin Film Thickness CRM of SiO2/Si
GBW13958 | 外包装为铝箔真空袋，每包装为一片，20 mm乘以20 mm
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多层膜膜厚（GaAs/AlAs超晶格）标准物质 Multi-layer thin film thickness CRM of GaAs/AlAs superlattice
GBW13955 | 1个/盒
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多层膜膜厚（GaAs/AlAs超晶格）标准物质 Multi-layer thin film thickness CRM of GaAs/AlAs superlattice
GBW13955 | 1片
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多层膜膜厚（GaAs/AlAs超晶格）标准物质 Multi-layer thin film thickness CRM of GaAs/AlAs superlattice
ZCM-GBW13955 | 1个/盒
浓度/纯度/标准值：特性 特性值 扩展不确定度(k=2) 表面层 (1.86) / HfO2层 4.76 0.04 Al2O3层 (9.39) / SiO2层 (0.65) /
使用注意事项：样品开封使用应保证取样工具等洁净避免沾污。建议本标准物质开封后用于一次检定/校准活动，在确保使用后无变形、无污染时可多次使用，但其量值仅可作为期间核查。
特征形态：固态
主要分析方法：纳米薄膜厚度校准装置（[2014]国量标计证第273号）
定值单位：中国计量科学研究院
规格：每包装为一片，20mm×20mm
定级证书量值信息：
应用领域：仪器检定/校准用标准物质/仪器检定/校准用标准物质
保存条件：真空包装，阴凉、干燥处存放。
研制单位名称：中国计量科学研究院
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