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美国PerkinElmer(PE)货号:L1272348 产品名称:IR耗材 EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100(EasyDiff碳化硅磨盘,Pkg. 100/)/Consumable EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

美国PerkinElmer(PE)货号:L1272348 产品名称:IR耗材 EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100(EasyDiff碳化硅磨盘,Pkg. 100/)/Consumable EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100

L1272348
¥ 2383.94
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PerkinElmer(PE)
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1272348 产品名称:IR耗材 EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100(EasyDiff碳化硅磨盘,Pkg. 100/)介绍:

EasyDiff碳化硅磨盘 产品描述

基本信息

  • 货号:L1272348
  • 产品名称:IR耗材 EasyDiff SiC Abrasive Disks
  • 包装规格:100片/包
  • 材质:碳化硅(SiC)
  • 品牌:PerkinElmer(美国)

产品特性

  • 高硬度碳化硅材质,耐磨性优异
  • 均匀颗粒分布,确保样品表面处理一致性
  • 适配主流红外光谱仪制样设备
  • 预分级处理,减少样品交叉污染风险
  • 单片独立包装,便于取用和保存

应用领域

  • 红外光谱(IR)样品制备
  • 材料表面精密抛光
  • 金属/陶瓷复合材料研磨
  • 实验室质量控制检测
  • 工业研发中的失效分析

产品优势

  • >300次循环使用寿命,降低耗材成本
  • 符合ASTM E1252标准要求
  • 双面可用设计提升使用效率
  • 防静电处理减少粉末吸附
  • 即拆即用,无需预处理

典型应用案例

  • 某国家级材料实验室用于航空合金表面处理
  • 制药企业QC部门检测原料药晶体结构
  • 高校研究团队制备纳米复合材料测试样片
  • 第三方检测机构完成汽车涂层成分分析

您正在浏览的产品:美国PerkinElmer(PE)货号:L1272348 产品名称:IR耗材 EasyDiff SiC Abrasive Disks, Pkg. 100(EasyDiff碳化硅磨盘,Pkg. 100/)

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准:《红外光谱分析方法通则》
标准名称及标准号 GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围 适用于固体、液体、气体样品的红外光谱分析,包括样品制备(如研磨、压片等)及仪器操作。
核心检测方法 红外透射法、衰减全反射法(ATR)及漫反射法;样品需经研磨处理(如碳化硅磨盘)至粒径≤2μm以确保光谱质量。
检出限与定量限 检出限通常为0.1%-1%(质量分数),定量限为0.5%-5%(视样品和仪器性能而定)。
质控样品要求 需使用标准物质(如聚苯乙烯薄膜)进行仪器校准和波长精度验证;平行样品的RSD应≤5%。
关键实验步骤 1. 样品研磨至均匀细粉;
2. 与溴化钾混合压片;
3. 采集4000-400cm⁻¹范围内的光谱;
4. 基线校正与谱图解析。
特别说明 研磨过程需避免污染,碳化硅磨盘使用后应彻底清洁,防止交叉污染。
行业标准:JJF 1319-2011《傅里叶变换红外光谱仪校准规范》
标准名称及标准号 JJF 1319-2011《傅里叶变换红外光谱仪校准规范》
适用范围 用于傅里叶变换红外光谱仪(含配套样品制备设备)的计量性能校准。
核心检测方法 通过标准物质(如聚苯乙烯薄膜)验证波数准确度(误差≤±4cm⁻¹)和信噪比(≥100:1)。
质控样品要求 校准需使用国家一级标准物质,保存条件应符合证书要求(如避光、干燥)。
关键实验步骤 1. 仪器预热≥1小时;
2. 采集空白背景光谱;
3. 标准物质光谱采集与比对。
特别说明 校准周期建议为12个月,若更换关键部件(如检测器)需重新校准。

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!