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标准物质/2种混合标准溶液-铝硅Al,Si/介质:10%硝酸+tr.盐酸+tr.氢氟酸介绍:

产品组成:
编号 产品浓度
NCS148331 100μg/mL

您正在浏览的产品:标准物质/2种混合标准溶液-铝硅Al,Si/介质:10%硝酸+tr.盐酸+tr.氢氟酸

手机版:标准物质/2种混合标准溶液-铝硅Al,Si/介质:10%硝酸+tr.盐酸+tr.氢氟酸

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号

GB/T 20975.25-2020《铝及铝合金化学分析方法 第25部分:元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

适用范围 适用于铝及铝合金中硅(Si)、铝(Al)等元素的测定,测定范围:Si 0.001%~12.0%,Al 0.10%~99.90%,特别适用于含氢氟酸介质的样品前处理体系
核心检测方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES),采用轴向观测模式提高灵敏度,使用混合酸(硝酸+盐酸+氢氟酸)消解样品
检出限与定量限

• Si检出限(LOD):0.0005% (质量分数)

• Si定量限(LOQ):0.0015%

• Al检出限:0.003%

• Al定量限:0.01%

质控样品要求

1. 每批次带国家有证标准物质(CRM),类型需与实际样品基质匹配

2. 平行样数量≥10%,相对偏差≤5%

3. 加标回收率控制:85%~115%

4. 每20个样品插入空白对照

关键实验步骤

1. 样品前处理:称取0.1g试样,加入6mL HCl+2mL HNO₃+1mL HF,微波消解

2. 介质匹配:定容介质含10%硝酸+痕量盐酸+氢氟酸

3. 仪器参数:RF功率1150W,雾化气流量0.7L/min,Si分析线251.611nm,Al分析线396.152nm

4. 干扰校正:采用干扰系数法消除Fe、Mn等元素的光谱干扰

特别说明

• 氢氟酸处理后的样品必须使用耐HF进样系统(铂金或PFA材质)

• 硅标准溶液需现配现用,储存不超过24小时

• 检测后立即用5%硼酸溶液冲洗进样系统,防止HF腐蚀

标准名称及标准号

GB/T 14849.4-2014《工业硅化学分析方法 第4部分:元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

适用范围 适用于工业硅中铝(Al)、硅(Si)等杂质元素的测定,特别针对高硅基体(Si>98%)样品,使用氢氟酸介质防止硅沉淀
核心检测方法 ICP-OES法,采用基体匹配法消除高硅基体干扰,使用硝酸-氢氟酸混合体系溶解样品
检出限与定量限

• Al检出限:0.0008%

• Al定量限:0.0025%

• 其他元素LOD:0.0003%~0.002%

质控样品要求

1. 使用YS/T 1171工业硅标样,每批次≥2个浓度水平

2. 精密度控制:RSD<3%(n=7)

3. 空白平行试验:≤0.0005%

4. 校准曲线R²≥0.9995

关键实验步骤

1. 样品溶解:0.2g样品+5mL HF+5mL HNO₃,水浴加热至完全溶解

2. 介质控制:最终介质含10%硝酸+0.5%氢氟酸

3. 基体匹配:标准系列溶液需含等量高纯硅基体

4. 谱线选择:Al 396.153nm(主),Si 251.611nm(需扣除背景干扰)

特别说明

• 必须使用塑料容量瓶定容,避免玻璃器皿溶出铝污染

• 高硅样品需完全溶解,防止硅酸聚合导致结果偏低

• 当Al含量<0.01%时,需采用标准加入法

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!