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标准物质/6种混合标准溶液内标溶液-锂钪锗钇铟铋Li,Sc,Ge,Y,In,Bi/介质:10%硝酸+tr.盐酸 不含氢氟酸介绍:

产品组成:
编号 产品浓度
NCS148435 100μg/mL

您正在浏览的产品:标准物质/6种混合标准溶液内标溶液-锂钪锗钇铟铋Li,Sc,Ge,Y,In,Bi/介质:10%硝酸+tr.盐酸 不含氢氟酸

手机版:标准物质/6种混合标准溶液内标溶液-锂钪锗钇铟铋Li,Sc,Ge,Y,In,Bi/介质:10%硝酸+tr.盐酸 不含氢氟酸

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

水质 65种元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
标准名称及标准号 HJ 700-2014《水质 65种元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》
适用范围 适用于地表水、地下水、生活污水和工业废水中锂(Li)、钪(Sc)、锗(Ge)、钇(Y)、铟(In)、铋(Bi)等65种元素的测定。样品需经硝酸酸化处理,与您使用的10%硝酸介质匹配
核心检测方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)。样品经酸消解后直接进样,通过四级杆质谱仪测定目标元素同位素质量数,采用内标法(推荐使用Sc、Y等作内标)进行定量分析
检出限与定量限 典型检出限(Li:0.08μg/L, Sc:0.01μg/L, Ge:0.05μg/L, Y:0.01μg/L, In:0.01μg/L, Bi:0.01μg/L)
定量限通常为检出限的3-5倍。实际值需通过空白样品加标验证确定
质控样品要求 1. 每批次需带试剂空白
2. 至少10%平行样(相对偏差≤20%)
3. 每20个样品插入标准物质(回收率85-115%)
4. 每样品需加测基体加标样(回收率70-130%)
关键实验步骤 1. 样品预处理:0.45μm滤膜过滤,硝酸酸化至pH<2
2. 内标加入:测试前加入Sc、Y等内标溶液
3. 仪器调谐:确保氧化物产率CeO/Ce<3%,双电荷产率<5%
4. 干扰校正:对Ge(74Ge→74Se)、Y(89Y→89Zr)等可能干扰进行数学校正
特别说明 1. 锗(Ge)在常规ICP-MS中灵敏度较低,建议采用碰撞反应池技术
2. 含钪(Sc)、钇(Y)内标溶液需与样品基体匹配(均为硝酸体系)
3. 铋(Bi)在209质量数可能受汞(Hg)干扰,需监控202Hg同位素
生活饮用水标准检验方法 金属指标
标准名称及标准号 GB/T 5750.6-2006《生活饮用水标准检验方法 金属指标》(含电感耦合等离子体质谱法)
适用范围 适用于生活饮用水及其水源水中多元素同时测定,包含您使用的锂(Li)、铋(Bi)等元素。要求样品经硝酸保存(pH<2),与您的标准溶液介质兼容
核心检测方法 标准中6.2章节规定使用ICP-MS法,采用内标校正(推荐Rh、In等内标),可直接测定经酸化处理的水样
检出限与定量限 Li定量限:0.5μg/L
Bi定量限:0.02μg/L
Ge、Y等元素需参考仪器性能确定,通常低于HJ700标准要求
质控样品要求 1. 每批样品带2个空白
2. 平行样数量≥10%(RSD≤15%)
3. 使用有证标准物质验证(回收率80-120%)
4. 每10个样品做加标回收(75-125%)
关键实验步骤 1. 样品酸化:现场采集后立即加硝酸至pH≤2
2. 内标选择:锂(Li)建议选用6Li同位素,钪(Sc)选用45Sc
3. 仪器校准:需用调谐液优化离子透镜电压
4. 记忆效应处理:高浓度铋(Bi)样品后需延长冲洗时间
特别说明 1. 对总溶解态固体>0.2%的样品需稀释处理
2. 锗(Ge)测定建议采用标准加入法
3. 含钪(Sc)内标需监控44Ca对44Sc的干扰
HJ 776-2015 水质 32种元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
标准名称及标准号 HJ 776-2015《水质 32种元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》
适用范围 适用于地表水、地下水、工业废水中金属元素测定,包含锂(Li)、钇(Y)、铋(Bi)等元素。要求样品经硝酸酸化保存,与您使用的标准溶液介质兼容
核心检测方法 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)。样品经酸化后直接进样,通过元素特征发射光谱强度定量,推荐使用钪(Sc)作内标校正基体效应
检出限与定量限 Li检出限:0.006mg/L
Y检出限:0.002mg/L
Bi检出限:0.008mg/L
Sc内标回收率需控制在85-115%
质控样品要求 1. 每批次≥2个空白样
2. 平行双样相对偏差≤15%
3. 每10个样品带1个标准物质
4. 基体加标回收率80-120%
关键实验步骤 1. 谱线选择:Li 670.784nm, Sc 361.384nm, Y 371.030nm
2. 内标加入:测试前在样品中均匀加入Sc内标溶液
3. 背景校正:需对Bi 223.061nm进行背景扣除
4. 干扰校正:Y需校正铁(Fe)的谱线重叠干扰
特别说明 1. 锗(Ge)不适用本法(建议改用ICP-MS)
2. 高盐样品需采用耐高盐雾化器
3. 铟(In)测定需选用230.606nm谱线避开钼干扰

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!