粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）_单标_基质类_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）

ZK040-1/ZK040-2/ZK040-3

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

3支/套

中国疾控

见证书

常温储存

常温运输

猜您喜欢

二氧化硅质控样
SDSZ130143-10 | 10(mg/L)
二氧化硅质控样
SDSZ130143-0.012 | 0.012(mg/L)
二氧化硅质控样
SDSZ130143-0.012 | 0.012(mg/L)
二氧化硅质控样
SDSZ130143-0.012 | 0.012(mg/L)
二氧化硅质控样
SDSZ130143-0.012 | 0.012(mg/L)
二氧化硅质控样
SDSZ130143-0.02 | 0.02(µg/mL)
粉尘中游离二氧化硅质控样品
P58974 | 见证书

粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）介绍：

粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）

粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）货号：ZK040-1/ZK040-2/ZK040-3 由萘析商城为您提供，如您想了解更多关于粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）货号：ZK040-1/ZK040-2/ZK040-3的报价、型号、货期、参数（浓度）等信息，欢迎来电或通过在线客服咨询。除供应粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）货号：ZK040-1/ZK040-2/ZK040-3 外，萘析商城还可为您提供其他标准物质、质控样、化学试剂、SPE、免疫亲和柱、针头滤器、色谱柱、进样瓶、离心管、枪头等实验室耗材类产品，是您值得信赖的合作伙伴。

您正在浏览的产品：粉尘中游离二氧化硅质控样品（焦磷酸法）

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

涉及标准及详细解读（GBZ/T 192.4-2007）

标准名称：

GBZ/T 192.4-2007《工作场所空气中粉尘测定第4部分：游离二氧化硅含量》

适用范围

适用于工作场所空气中粉尘（包括结晶型和无定型二氧化硅）游离二氧化硅含量的测定，焦磷酸法为主要检测方法，适用于硅酸盐及其他杂质干扰的消除。

关联内容

方法原理：

粉尘样品经焦磷酸（300±5℃）高温消解，硅酸盐类物质被溶解，游离二氧化硅因不溶而保留，通过重量法计算含量。

质控要求：

• 空白试验：每批次样品需同步进行空白对照，消除试剂干扰

• 平行样测试：同一样品至少测定2次，相对偏差应≤5%

• 标准物质验证：使用已知浓度的二氧化硅标准物质进行方法验证

检出限与测定范围

检出限：	0.1mg（以称样量10mg计，最低检出浓度为1%）
测定范围：	游离二氧化硅含量≥1%的粉尘样品

质控样品处理关键点

样品前处理：

粉尘需通过200目筛，确保颗粒均匀；高温消解时需严格控制温度（300±5℃）和时间（15-20分钟）

干扰消除：

若样品含碳化物（如煤尘），需先经高温灰化（800℃）后再用焦磷酸处理

结果计算：

游离二氧化硅含量计算公式 w = (m₁ - m₀)/m × 100%
其中 m₁ 为残渣质量，m₀ 为空白质量，m 为样品质量

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！