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锗元素溶液标准物质/WYJLBZ-0011_7440-56-4
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锗元素溶液标准物质/WYJLBZ-0011

BWB2238-2016 Ge standard solution {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 7440-56-4 50mL {{goodObj.date}} 伟业计量 {{item.norm}} 1000μg/mL {{inventory}} 见证书
一、基本信息:
基质5%NaOH
形态液态
有效期2027-02-15
存储条件常温条件下保存。使用前应恒温至(20±3)℃,并充分摇动以保证均匀。使用中严格防止沾污。
用途本标准物质可作为工作标准,用于日常分析和检测;也可用于检测方法评价和仪器校准等实验室质量控制。
别名Ge
理化性质密度 5.35 g/mL at 25 °C(lit.)沸点 2830 °C(lit.)熔点 937 °C(lit.)分子式 Ge分子量 72.640精确质量 73.921181LogP 0.06920外观性状 淡灰色-白色有光泽的脆性固体,无臭
稀释方法
二、样品制备:
本标准物质采用高纯物质为溶质,以5%氢氧化钠为溶剂,在室温(20±3)℃洁净实验室中采用重量-容量法配制而成。
三、溯源性及定值方法:
本标准物质的浓度标准值采用配制值,并用原子吸收光谱分析法进行量值核验。通过使用满足计量学特性要求的制备、测量方法和计量器具,保证标准物质量值的溯源性。
四、特征量值及扩展不确定度:
序号 组分 标准值 扩展不确定度(k=2) 基体
11000μg/mL2%5%NaOH
五、均匀性检验及稳定性考察:
参照JJF1343 国家计量技术规范(等效ISO指南35),对分装后的样品进行随机抽样,采用原子吸收光谱分析法对该标准物质进行均匀性检验和长期稳定性跟踪考察。结果表明:均匀性符合F检验规则,稳定性考察良好。
六、包装、储存及使用:
本标准物质采用白色塑料瓶包装,规格50mL携带或运输时应有防碎裂保护。
七、研制依据:
依据名称 依据编号 依据实施日期 下载
WYJLBZ-0011 水和废水监测分析方法(第四版)WYJLBZ-00111900-01-01 00:00:00
八、参考资料:

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GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
适用范围
适用于金属锗中痕量杂质元素的检测,包括半导体级锗材料的质量控制[2]
核心检测方法
辉光放电质谱法(GD-MS),可同时测定多种痕量元素,灵敏度达ppb级[2]
检出限与定量限
典型检出限为0.01-0.1μg/g,定量限为0.03-0.3μg/g[2]
质控样品要求
需使用标准参考物质进行仪器校准,样品表面需抛光处理至Ra≤0.1μm[2]
关键实验步骤
1. 样品切割成直径25mm圆片
2. 氩气等离子体溅射清洗表面
3. 优化放电参数(电压500-1000V,电流2-5mA)[2]
特别说明
需特别注意基体效应校正,推荐使用基体匹配标准物质[2]
GB/T 14352.24-2022 钨矿石、钼矿石化学分析方法第24部分:锗含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
适用范围
适用于钨、钼矿石中0.1-500μg/g锗含量的测定[2]
核心检测方法
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS),采用内标法校正基体效应[2]
检出限与定量限
方法检出限0.03μg/g,定量限0.1μg/g[2]
质控样品要求
每批次需带地质标准物质GBW07288进行过程控制,回收率要求85-115%[2]
关键实验步骤
1. 微波消解程序(温度200℃保持30分钟)
2. 采用Ge-74同位素检测
3. 在线加入铑内标溶液[2]
特别说明
高含量钨样品需采用氢氟酸完全溶解钨酸沉淀[2]
SN/T 5242-2020 进出口纺织品 锗含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
适用范围
适用于纺织材料及其制品中0.05-50mg/kg锗含量的检测[7]
核心检测方法
微波消解-ICP-MS法,采用碰撞反应池技术消除干扰[7]
检出限与定量限
方法检出限0.02mg/kg,定量限0.05mg/kg[7]
质控样品要求
每批样品需同步测定空白样品、加标样品和标准物质GBW10020[7]
关键实验步骤
1. 样品剪碎至≤0.5mm×0.5mm
2. 硝酸-过氧化氢体系微波消解
3. 氦气碰撞模式消除质谱干扰[7]
特别说明
含硅酸盐纺织品需增加氢氟酸消解步骤[7]
[2] 锗 元素标准-分析测试百科网 [7] 锗 含量标准-分析测试百科网

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