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美国PerkinElmer(PE)货号:L1272327 产品名称:IR耗材 ATR Silver Gate Evolution Flat Ge(衰减全反射银门进化版平面锗/理化分析仪用反射附件)/Minor Accessory ATR Silver Gate Evolution Flat Ge
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

美国PerkinElmer(PE)货号:L1272327 产品名称:IR耗材 ATR Silver Gate Evolution Flat Ge(衰减全反射银门进化版平面锗/理化分析仪用反射附件)/Minor Accessory ATR Silver Gate Evolution Flat Ge

L1272327
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1272327 产品名称:IR耗材 ATR Silver Gate Evolution Flat Ge(衰减全反射银门进化版平面锗/理化分析仪用反射附件)介绍:

IR耗材 ATR Silver Gate Evolution Flat Ge

基本信息

  • 货号:L1272327
  • 产品名称:ATR Silver Gate Evolution Flat Ge
  • 品牌:美国PerkinElmer(PE)
  • 类型:衰减全反射附件(ATR)
  • 核心材质:平面锗晶体
  • 适用仪器:理化分析仪反射组件

产品特性

  • 采用高折射率平面锗晶体,支持宽光谱范围检测(4000-600 cm⁻¹)
  • 银门涂层技术(Silver Gate Evolution™),提升信号灵敏度和稳定性
  • 一体化防刮擦设计,延长晶体使用寿命
  • 适用于液体、固体、半固体及薄膜样品分析
  • 快速压力锁定装置,简化样品装载流程

应用领域

  • 化学品成分快速鉴定
  • 药物原料与制剂的定性分析
  • 高分子材料表面特性研究
  • 法医物证检测
  • 食品工业中添加剂与污染物筛查

产品优势

  • 高效检测:无需复杂样品前处理,10秒内完成数据采集
  • ? 高精度:银门技术有效抑制背景噪声,信噪比提升30%
  • ?? 操作友好:模块化设计兼容主流傅里叶红外光谱仪
  • ?️ 耐久性强:抗化学腐蚀晶体表面处理技术

典型应用案例

案例1:制药行业质量控制
某药企用于检测片剂包衣层均匀性,5分钟内完成20批次样品分析,准确识别涂层厚度差异。

案例2:新材料研发
科研团队分析石墨烯复合材料的表面官能团分布,成功建立材料性能与结构关联模型。


您正在浏览的产品:美国PerkinElmer(PE)货号:L1272327 产品名称:IR耗材 ATR Silver Gate Evolution Flat Ge(衰减全反射银门进化版平面锗/理化分析仪用反射附件)

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