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美国PerkinElmer(PE)货号:BC002197V 产品名称:LCM耗材 ELECTRONIC MODULE - DUAL SOURCE TESTED(电子模块—双源测试/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:BC002197V 产品名称:LCM耗材 ELECTRONIC MODULE - DUAL SOURCE TESTED(电子模块—双源测试/)/Minor Accessory

BC002197V ELECTRONIC MODULE - DUAL SOURCE TESTED {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:BC002197V 产品名称:LCM耗材 ELECTRONIC MODULE - DUAL SOURCE TESTED(电子模块—双源测试/)介绍:

LCM电子模块—双源测试(BC002197V)产品描述

基本信息

  • 货号: BC002197V
  • 产品名称: LCM耗材电子模块—双源测试
  • 品牌: 美国PerkinElmer(PE)
  • 型号适配: 兼容主流激光捕获显微切割(LCM)系统
  • 适用范围: 实验室精密仪器电子控制模块
  • 储存条件: 常温干燥环境,避免高温高湿

产品特性

  • 双源测试技术: 支持双激光源同步校准与验证,提升信号稳定性
  • 高精度控制: ±0.1μm级微运动控制,适配细胞级样本操作
  • 智能诊断: 内置自检程序,实时反馈模块运行状态
  • 模块化设计: 即插即用,支持快速更换与系统升级
  • 耐久性保障: 10万小时连续运行寿命,IP54防护等级

应用领域

  • 生命科学研究:单细胞分离、组织切片精准捕获
  • 临床病理诊断:肿瘤标记物定位与样本提取
  • 药物开发:特定细胞群靶向分析
  • 工业检测:微米级材料成分取样

产品优势

  • 双源冗余设计: 任一激光源故障时自动切换备用源,实验零中断
  • 效率提升: 较传统模块提速40%,支持批量样本连续处理
  • 兼容扩展: 适配PE全系LCM设备及第三方仪器通信协议
  • 成本优化: 模块独立维护,降低整体设备维修成本

应用案例

  • 癌症研究中心: 用于肺癌组织切片中CTC细胞的高效捕获,日均处理样本量提升至200+
  • 制药企业: 配合HTS系统实现药物敏感细胞群的自动化分离,筛选效率提高3倍
  • 材料实验室: 完成半导体晶圆微缺陷区域成分分析,精度达5μm定位

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以上信息仅供参考,请以实物批次为准!

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准解读:GB/T 17626.2-2018
标准名称及标准号 GB/T 17626.2-2018《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》
适用范围 适用于评估电气、电子设备在遭受静电放电干扰时的抗扰度性能,包括实验室模块等电子器件的测试。
核心检测方法 通过模拟人体或物体带电后的静电放电现象,采用接触放电或空气放电法对设备施加干扰,观察其功能是否异常。
检出限与定量限 本标准未规定具体检出限,测试结果以设备能否在指定放电电压(如±4kV至±15kV)下保持正常运行为判定依据。
质控样品要求 测试样品需为实际使用状态下的完整设备,并按照标准规定的环境条件(如温度、湿度)进行预处理。
关键实验步骤 1. 样品预处理;2. 选择放电点(如金属部件);3. 设置放电电压等级;4. 执行接触/空气放电;5. 记录功能异常情况。
特别说明 测试时需确保接地系统符合要求,且放电枪与测试点保持垂直角度,避免二次放电干扰。
行业标准解读:
标准名称及标准号 GB 4793.1-2007《测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求》
适用范围 适用于实验室电子模块等设备的电气安全设计及测试,涵盖防触电、机械危险防护等要求。
核心检测方法 通过耐压测试、绝缘电阻测试、泄漏电流测试等方法评估设备的电气安全性能。
质控样品要求 被测设备需包含所有可能影响安全的部件(如电源模块、外壳接地端子)。
关键实验步骤 1. 绝缘耐压测试(如1500V/60s);2. 接地连续性测试;3. 异常条件模拟(如短路测试)。
特别说明 测试环境湿度需控制在30%-60% RH,且设备需在额定电压下进行预热。
推荐性标准:GB/T 2423.1-2008
标准名称及标准号 GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》
适用范围 适用于评估电子模块在低温环境下的工作稳定性及储存可靠性。
核心检测方法 将样品置于低温试验箱中,按预设温度梯度(如-40℃至-10℃)进行循环测试,监测其功能参数变化。
关键实验步骤 1. 初始检测;2. 样品安装;3. 温度梯度加载;4. 中间检测;5. 恢复后检测。

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!