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美国PerkinElmer(PE)货号:L1280323 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF(荧光反射薄膜/SP3 基础漫反射参考板/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1280323 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF(荧光反射薄膜/SP3 基础漫反射参考板/)/Minor Accessory

L1280323 FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:L1280323 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF(荧光反射薄膜/SP3 基础漫反射参考板/)介绍:

IR耗材 FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF 产品描述

基本信息

  • 货号: L1280323
  • 产品名称: FRT/SP3 BASIC DIFFUSE REF
  • 品牌: PerkinElmer(美国)
  • 型号: SP3基础型
  • 类型: 荧光反射薄膜/漫反射参考板
  • 适用仪器: 红外光谱仪(FTIR)、荧光光谱仪及相关光学检测设备

产品特性

  • 高精度漫反射参考标准,确保光谱数据一致性
  • 采用特殊涂层工艺,反射率稳定且重复性优异
  • 适用于紫外-可见-近红外(UV-Vis-NIR)宽光谱范围
  • 耐磨损表面处理,延长使用寿命
  • 模块化设计,兼容主流品牌光谱仪器

应用领域

  • 实验室光谱分析系统校准
  • 工业生产线光学检测质量控制
  • 材料表面反射特性研究
  • 荧光标记样品检测背景校正
  • 科研级光学仪器性能验证

产品优势

  • 通过NIST可溯源性认证,数据可信度高
  • 环境适应性更强,温湿度波动影响极小
  • 即插即用设计,无需复杂校准流程
  • 支持多点反射率标定,满足复杂实验需求
  • 维护成本低,表面清洁简易

应用案例

  • 制药行业:用于药片包衣均匀性的在线光学检测系统校准
  • 材料研究:辅助分析纳米涂层材料的漫反射特性
  • 环境监测:作为大气颗粒物检测仪的反射基准模块
  • 半导体制造:晶圆表面缺陷检测设备的光学校准组件

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国家标准GB/T 37635-2019《固体材料漫反射率的测定 积分球法》
标准名称及标准号GB/T 37635-2019《固体材料漫反射率的测定 积分球法》
适用范围适用于固体材料在紫外-可见-近红外光谱范围内的漫反射率测定,包括粉末、薄膜、涂层等样品。
核心检测方法采用积分球法测量样品与标准参考板(如SP3漫反射参考板)的反射光强度,计算漫反射率。
检出限与定量限未明确规定具体数值,需根据仪器灵敏度和样品特性确定。
质控样品要求需使用有证标准物质(如硫酸钡或聚四氟乙烯标准板)校准仪器,确保参考板的反射率稳定。
关键实验步骤1. 仪器预热校准;2. 标准参考板基线校正;3. 样品均匀放置于积分球样品口;4. 多次测量取平均值。
特别说明实验环境需避光且温湿度恒定,避免参考板表面污染影响数据准确性。
国家标准《实验室仪器及设备分类与编码》
标准名称及标准号GB/T 32210-2015《实验室仪器及设备分类与编码》
适用范围规范实验室仪器设备的分类与编码规则,适用于荧光反射薄膜等耗材的管理与标识。
核心检测方法未涉及具体检测方法,但规定耗材的分类原则(如按光学性能、材质等)。
检出限与定量限不适用。
质控样品要求要求对参考板等耗材进行唯一性标识,记录批次号及校准信息。
关键实验步骤依据标准对耗材进行编码归档,确保可追溯性。
特别说明需定期核查耗材编码信息与实物一致性。
行业标准《环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》
标准名称及标准号HJ 830-2017《环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》
适用范围适用于气溶胶滤膜样品中无机元素的半定量分析,部分方法可参考用于反射率辅助测试。
核心检测方法通过X射线荧光光谱法测定样品成分,需使用反射参考板进行仪器校准。
检出限与定量限不同元素检出限为0.01-1.0 μg/cm²,定量限为0.03-3.0 μg/cm²。
质控样品要求每批次需测定空白样品及有证标准物质,相对误差应≤15%。
关键实验步骤1. 样品均匀铺展;2. 反射参考板校准仪器;3. 多次扫描消除背景干扰。
特别说明需注意参考板表面清洁度,避免颗粒物附着导致校准偏差。

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