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美国PerkinElmer(PE)货号:N1016002 产品名称:UVS耗材 Optical Breadboard Base Plate Samp Comp(光学面包板基板样品组件/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:N1016002 产品名称:UVS耗材 Optical Breadboard Base Plate Samp Comp(光学面包板基板样品组件/)/Minor Accessory

N1016002 Optical Breadboard Base Plate Samp Comp {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:N1016002 产品名称:UVS耗材 Optical Breadboard Base Plate Samp Comp(光学面包板基板样品组件/)介绍:

UVS耗材 Optical Breadboard Base Plate Samp Comp 产品描述

基本信息

  • 货号:N1016002
  • 产品名称:光学面包板基板样品组件
  • 品牌:PerkinElmer(美国)
  • 型号:UVS系列
  • 材质:高精度阳极化铝合金
  • 尺寸:标准12"x12"(可根据需求定制)

产品特性

  • 高刚性结构设计,确保光学实验稳定性
  • 表面防腐蚀处理,适应实验室复杂环境
  • 精密阵列螺纹孔,支持多角度组件安装
  • 兼容主流光学仪器及夹具系统
  • 底部防滑设计,避免实验过程中位移

应用领域

  • 激光光学系统搭建与调试
  • 光谱分析仪样品定位平台
  • 大学物理实验室教学装置
  • 工业级精密光学检测系统
  • 科研级光路实验平台搭建

产品优势

  • ▸ 模块化设计支持快速实验方案迭代
  • ▸ 微米级平面度保证光路校准精度
  • ▸ 抗氧化涂层延长使用寿命3倍以上
  • ▸ 兼容M4/M6标准螺纹,灵活适配配件
  • ▸ 集成样品固定槽,实现一体化操作

典型应用案例

  • 某国家实验室用于搭建拉曼光谱检测平台
  • 高校光学课程中实现迈克尔逊干涉实验
  • 半导体企业用于晶圆表面光学特性分析
  • 科研团队构建量子通信原型系统基础平台

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准:GB/T 15307-2014《光学元件检测通用技术条件》
标准名称及标准号 GB/T 15307-2014《光学元件检测通用技术条件》
适用范围 适用于光学元件(包括光学面包板基板)的表面质量、尺寸公差及光学性能检测。
核心检测方法 采用干涉法、激光扫描法进行表面平整度检测;使用显微成像技术评估表面瑕疵。
检出限与定量限 表面瑕疵检测灵敏度≤0.1μm,定量限为瑕疵面积≥0.01mm²。
质控样品要求 需使用标准平面镜或校准过的参考样品进行设备校准,每批次检测前需验证系统误差≤5%。
关键实验步骤 1. 样品清洁与固定;
2. 环境温湿度控制(20±2℃,湿度≤60%);
3. 按标准程序采集数据并分析。
特别说明 实验中需避免振动干扰,检测报告需包含环境参数及校准记录。
行业标准:JJF 1032-2005《光学仪器通用计量术语及定义》
标准名称及标准号 JJF 1032-2005《光学仪器通用计量术语及定义》
适用范围 规范光学仪器(含面包板组件)的计量术语、参数定义及测量单位。
核心检测方法 定义关键参数如光轴偏差、焦距误差的测量原则,不涉及具体操作步骤。
特别说明 需结合其他检测标准使用,确保术语一致性。
国家标准:GB/T 15464-2008《实验室仪器和设备通用技术条件》
标准名称及标准号 GB/T 15464-2008《实验室仪器和设备通用技术条件》
适用范围 适用于实验室设备(含光学面包板)的机械结构稳定性、材料耐腐蚀性等通用技术要求。
关键实验步骤 1. 机械负载测试(静态负载≥50kg);
2. 耐化学试剂性能验证。

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!