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美国PerkinElmer(PE)货号:N0811963 产品名称:ICP耗材 Probe for Particle Applications(颗粒应用探针/)/Consumable_
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美国PerkinElmer(PE)货号:N0811963 产品名称:ICP耗材 Probe for Particle Applications(颗粒应用探针/)/Consumable

N0811963 Probe for Particle Applications {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:N0811963 产品名称:ICP耗材 Probe for Particle Applications(颗粒应用探针/)介绍:

PerkinElmer 颗粒应用探针 (货号: N0811963)

基本信息

  • 产品名称:颗粒应用探针 (Probe for Particle Applications)
  • 品牌:美国 PerkinElmer (PE)
  • 货号:N0811963
  • 原产地:美国
  • 适用仪器:PerkinElmer ICP-OES/ICP-MS 系列设备

产品特性

  • 精准探测:专为颗粒物分析优化设计,提升检测灵敏度和重复性。
  • 耐腐蚀材质:采用高纯度石英或惰性材料,耐受强酸、高温等离子体环境。
  • 兼容性强:适配 PE 多型号 ICP 设备,支持快速安装与更换。
  • 长寿命设计:结构坚固,减少频繁维护需求,降低使用成本。

应用领域

  • 环境监测:大气颗粒物(PM2.5/PM10)、水体悬浮物等痕量元素分析。
  • 材料科学:纳米颗粒、金属粉末、催化剂等粒径及成分检测。
  • 制药行业:药物载体颗粒均匀性及杂质元素控制。
  • 地质研究:岩石、土壤中微米级矿物颗粒的元素分布分析。

产品优势

  • 原厂品质:PerkinElmer 原装耗材,确保与设备完美匹配及数据可靠性。
  • 高灵敏度:优化探针尖端设计,提升低浓度颗粒物的信号响应。
  • 高效稳定:减少等离子体干扰,保障长时间连续检测的稳定性。
  • 服务支持:全球技术团队提供专业应用方案及售后维护指导。

应用案例

  • 案例1:某环境实验室使用该探针检测工业区空气中重金属颗粒(如铅、镉),成功定位污染源。
  • 案例2:材料研究机构通过高精度元素分析,优化锂离子电池电极材料的纳米颗粒合成工艺。
  • 案例3:制药企业利用探针监控药物缓释微球中的杂质元素含量,确保符合 FDA 标准。

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准:GB/T 32462-2015 《大气颗粒物中金属元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》
标准名称及标准号 GB/T 32462-2015 《大气颗粒物中金属元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》
适用范围 适用于环境空气、室内空气及工作场所空气中颗粒物(如PM2.5、PM10等)中铅、镉、砷等金属元素的定量分析。
核心检测方法 采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS),结合颗粒物采样后消解处理,对目标金属元素进行定性与定量分析。
检出限与定量限 铅(Pb)的检出限为0.01 ng/m³,定量限为0.03 ng/m³;镉(Cd)的检出限为0.005 ng/m³,定量限为0.015 ng/m³。
质控样品要求 需使用有证标准物质(如NIST SRM 1648a)进行校准,每批次样品至少包含10%的空白样和平行样,相对标准偏差(RSD)应小于15%。
关键实验步骤 1. 颗粒物样品采集与称量;2. 硝酸-过氧化氢微波消解;3. 定容后过滤;4. ICP-MS上机分析;5. 数据校正与结果计算。
特别说明 需注意基体干扰(如氯、硫等)对检测结果的影响,必要时使用碰撞反应池(CRC)技术消除干扰。
行业标准: 《环境空气颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》
标准名称及标准号 HJ 657-2013 《环境空气颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》
适用范围 适用于颗粒物中钠(Na)至铀(U)范围内多种无机元素的快速筛查与半定量分析。
核心检测方法 通过能量色散X射线荧光光谱(ED-XRF)直接对滤膜采集的颗粒物样品进行非破坏性分析。
检出限与定量限 典型元素(如铁、锌)的检出限为10 ng/m³,定量限为30 ng/m³(基于24小时采样)。
质控样品要求 需使用NIST标准滤膜进行仪器校准,每批次需分析至少1个空白样品和1个平行样。
关键实验步骤 1. 样品均匀铺展于滤膜;2. X射线荧光光谱仪参数优化;3. 标准曲线建立;4. 样品测定与谱图解析。
特别说明 该方法不适用于挥发性或有机物含量高的样品,需结合其他方法验证结果。

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