美国PerkinElmer(PE)货号：L1200323 产品名称：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Flat Top-Plate(ZnSe 涂层45度平顶板/)/Minor Accessory_红外光谱仪_分析仪器耗材_实验耗材_萘析商城

标准名称及标准号	GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围	适用于固体、液体、气体样品的红外光谱定性及定量分析，包含使用ZnSe等ATR附件进行表面或薄膜分析。
核心检测方法	规定红外光谱仪操作、ATR附件使用、背景扣除及样品制备流程；强调通过特征吸收峰进行物质鉴别。
检出限与定量限	检出限通常为0.1%~1%（取决于样品性质），定量限需通过方法验证确定，建议使用标准曲线法。
质控样品要求	需定期使用聚苯乙烯薄膜校准波数精度（±4 cm^-1以内），并使用已知浓度样品验证仪器稳定性。
关键实验步骤	1. 清洁ZnSe晶体表面 2. 施加样品确保接触均匀 3. 设定分辨率≥4 cm^-1采集数据 4. 分析前扣除空气背景
特别说明	ZnSe晶体易被强酸/碱性样品腐蚀，测试后需立即用乙醇擦拭；不适用于高硬度或尖锐样品。

标准名称及标准号	GB/T 36764-2018《表面化学分析衰减全反射红外光谱法通则》
适用范围	专门针对ATR技术对固体/液体表面及薄膜的红外光谱分析，明确ZnSe等晶体材料的适用场景。
核心检测方法	规定ATR附件的参数设置（入射角、压力）、样品接触面积控制及深度渗透校正方法。
质控样品要求	需使用厚度≤1 μm的聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）薄膜验证ATR附件的穿透深度重复性。
关键实验步骤	1. 选择45°入射角匹配样品折射率 2. 施加恒定压力避免晶体损伤 3. 采集≥32次扫描提高信噪比
特别说明	ZnSe晶体的有效检测深度为0.5~2 μm，需根据样品光学性质校正光谱数据。

美国PerkinElmer(PE)货号：L1200323 产品名称：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Flat Top-Plate(ZnSe 涂层45度平顶板/)/Minor Accessory