X射线荧光光谱分析用合成标准物质_标准物质_基质类_单标_萘析商城

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X- Ray Fluorescence spectrum Artificial Standard Material

产品编号

GBW07721

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CAS号

规格

瓶子5mm

有效期

品牌

萘析精选

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X射线荧光光谱分析用合成标准物质介绍：

使用注意事项：使用前105ºC干燥2小时，置干燥器中冷至室温后使用。可用纯净SiO2按比例研磨混合，系列稀释后使用。Mn组标准样品。最小取样量为20mg。
特征形态：固态
主要分析方法：X射线荧光法# 等离子光谱法# 等离子质谱法#
定值单位：国家地质实验测试中心#
规格：瓶子5mm
定级证书量值信息：

	标准值	不确定度	单位	CAS
Rb	7.21*	0.32*	质量分数(10^-6)	7440-17-7
Ba	7.76*	0.13*	质量分数(10^-6)	7440-39-3
Cr	3.98*	0.06*	质量分数(10^-6)	7440-47-3
Yb	1.53*	0.05*	质量分数(10^-6)	7440-64-4
Hf	1.54*	0.09*	质量分数(10^-6)	7440-58-6
Mo	1.57*	0.03*	质量分数(10^-6)	7439-98-7
As	1.21*	0.03*	质量分数(10^-6)	7440-38-2
Sn	1.54*	0.04*	质量分数(10^-6)	7440-31-5
Pb	12.7	2.3	质量分数(10^-6)	7439-92-1
Ni	3.6	2.4	质量分数(10^-6)	7440-02-0
Co	0.87	0.37	质量分数(10^-6)	7440-48-4
Cu	15.6	2.9	质量分数(10^-6)	7440-50-8
La	2.67	0.83	质量分数(10^-6)	7439-91-0
Zr	(59.4)		质量分数(10^-6)	7440-67-7
Nd	1.47	0.92	质量分数(10^-6)	7440-00-8
V	(4.9)		质量分数(10^-6)	7440-62-2
Sr	758	90	质量分数(10^-6)	7440-24-6
Ce	2.9	0.8	质量分数(10^-6)	7440-45-1
Zn	27.1	4.5	质量分数(10^-6)	7440-66-6
Y	4.1	1.6	质量分数(10^-6)	7440-65-5
Ta	(4.1)		质量分数(10^-6)	7440-25-7
Bi	(3.3)		质量分数(10^-6)	7440-69-9
Ti	(101)		质量分数(10^-6)	7440-32-6
Mn	4.6	2.0	质量分数(10^-6)	7439-96-5
W	(1.9)		质量分数(10^-6)	7440-33-7
Ga	1.1	0.6	质量分数(10^-6)	7440-55-3
Nb	0.96	0.26	质量分数(10^-6)	7440-03-1
Cs	(38.7)		质量分数(10^-6)	7440-46-2
Ge	(0.30)		质量分数(10^-6)	7440-56-4

*质量分数为×10^-2

保存条件：可存放在没有直射光线，温度在26ºC以下的干燥器中。
研制单位名称：国家地质实验测试中心#

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