硅单晶电阻率标准物质_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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硅单晶电阻率标准物质

GBW13703

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套/4片

中国计量院

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硅单晶电阻率标准物质介绍：

使用注意事项：使用时用镊子取出标准物质片，放置测量样片台上
特征形态：固态
基体：硅单晶材料
主要分析方法：
定值单位：中国计量科学研究院
规格：套/4片
定级证书量值信息：

	标准值	相对不确定度(%)	单位	CAS	备注
电阻率标称值	1	1.5	电阻率标称值(·cm)
径向不均匀度（％）（距边缘6mm以内）	3	1.5	径向不均匀度(%)

保存条件：
保存条件：干净通风干燥的地方保存
研制单位名称：中国计量科学研究院

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

标准名称
GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率测定方法

适用范围
适用于硅单晶材料在室温下的电阻率测定，适用于N型或P型掺杂样品，电阻率范围0.001-3000 Ω·cm。

核心检测方法
采用四探针法，通过直线或方形探针排列施加恒定电流，测量电压降并计算电阻率值。

检出限与定量限
检出限为0.001 Ω·cm，定量限为0.005 Ω·cm，适用于高纯度硅单晶样品的精确测量。

质控样品要求
需使用经认证的硅单晶标准物质进行校准，样品表面要求平整无氧化层，厚度≥0.5 mm。

关键实验步骤
1. 样品预处理（研磨、清洗、干燥）； 2. 四探针间距校准； 3. 恒流源稳定性测试； 4. 电压测量重复性验证（≥3次）。

特别说明
测试环境需保持温度稳定（23±1℃），高阻样品需屏蔽电磁干扰，探针压力应控制在0.5-1.0 N范围内。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！