滤膜中锑分析质控样HJ 657-2013_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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滤膜中锑分析质控样HJ 657-2013

MCS-16363

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1. 基本信息

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本质控样仅供实验室研究与分析测试工作使用，因用户使用或储存不当所引起的投诉，不予承担责任。

收到后请立即核对品种、数量和包装，相关赔偿只限于样品本身，不涉及其他任何损失。

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HJ 657-2013《环境空气颗粒物中铅等金属元素的测定电感耦合等离子体质谱法》

适用于环境空气及无组织排放颗粒物中锑（Sb）等金属元素的测定，包括滤膜采集样品的前处理及分析。

采用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS），通过微波消解或酸溶法处理滤膜样品，测定锑的质谱信号强度，结合标准曲线定量分析。

方法检出限（MDL）为0.05 ng/m³（以采样体积1000 m³计），定量限（LOQ）为0.2 ng/m³。

每批次样品需包含空白样品、平行样及加标回收样。平行样相对偏差应≤15%，加标回收率控制在80%-120%。

1. 滤膜样品切割后微波消解；
2. 消解液定容并过滤；
3. ICP-MS仪器参数优化；
4. 标准曲线绘制与样品测定；
5. 数据处理及结果校正。

1. 注意锑的同位素选择（¹²¹Sb或¹²³Sb）以避开质谱干扰；
2. 滤膜材质需与标准方法兼容，避免引入背景污染；
3. 实验过程中需严格控温，防止挥发性锑化合物损失。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！