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硅(Si)标准溶液_7440-21-3
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硅(Si)标准溶液

LINS001353 Silicon {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 7440-21-3 50mL {{goodObj.date}} CATO {{item.norm}} 1000mg/L in 0.1mol/L NaOH {{inventory}}
硅(Si)标准溶液介绍:


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硅(Si)标准溶液

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相关国家标准解读(按相关度排序)
标准名称及标准号 GB/T 5009.268-2016《食品安全国家标准 食品中多元素的测定》
适用范围 适用于食品中硅(Si)元素的定量检测,包含液体、固体和半固体样品的前处理方法
核心检测方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)或电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
检出限与定量限 ICP-MS法检出限0.01 mg/kg,定量限0.03 mg/kg;ICP-OES法检出限0.05 mg/kg,定量限0.15 mg/kg
质控样品要求 每批次需包含空白对照、标准物质平行样和加标回收样,回收率应控制在85%-115%
关键实验步骤 微波消解处理样品→定容后过滤→仪器分析(需校正质量数m/z=28的质谱干扰)
特别说明 检测含高浓度铝、磷的样品时需采用碰撞反应池技术消除干扰
标准名称及标准号 GB/T 30447-2013《纳米薄膜中硅含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法》
适用范围 纳米级硅材料及薄膜制品中硅元素的定性定量分析
核心检测方法 能量色散X射线荧光光谱法(ED-XRF)
检出限与定量限 检出限0.1 μg/cm²,定量限0.3 μg/cm²(基于标准膜厚验证)
质控样品要求 需使用经认证的硅标准膜片进行仪器校准,每12小时重新校准
关键实验步骤 样品表面清洁→放置于样品舱→选择Si-Kα特征谱线(1.739 keV)→积分时间≥300秒
特别说明 样品厚度需小于X射线穿透深度,测试环境湿度需控制在40%±5%
标准名称及标准号 GB/T 20975.25-2020《铝及铝合金化学分析方法 第25部分:硅含量的测定》
适用范围 金属材料中硅含量的分光光度法测定,检测范围0.10%~15.00%
核心检测方法 钼蓝分光光度法(波长810 nm)
检出限与定量限 方法检出限0.03%,定量下限0.10%(以称样量0.5 g计)
质控样品要求 需同步测定有证标准物质(CRM)和双空白,标准曲线R²≥0.999
关键实验步骤 酸溶解样品→加钼酸铵显色→抗坏血酸还原→显色10分钟后比色测定
特别说明 磷酸盐干扰需通过调节溶液酸度消除,显色温度应保持25±2℃

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