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滤膜中锡分析质控样HJ 777-2015/HJ 657-2013
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

滤膜中锡分析质控样HJ 777-2015/HJ 657-2013

MCS-16108
¥ 800.0
¥ 800.0
3片/套
萘析精选
见证书
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滤膜中锡分析质控样HJ 777-2015/HJ 657-2013介绍:

1. 基本信息

样品名称:滤膜中锡分析质控样
编号:MCS-16108批号:见证书
规格:3片/套性状:片状
包装:自封袋储存条件:常温、避光

2. 特性量值

目标物标准值(ug/片)
锡JT2311-0278-1**
锡JT2311-0278-2**
锡JT2311-0278-3**

3. 说明

本质控样仅供实验室研究与分析测试工作使用,因用户使用或储存不当所引起的投诉,不予承担责任。

收到后请立即核对品种、数量和包装,相关赔偿只限于样品本身,不涉及其他任何损失。

如需获得更多与使用有关的信息,请与客服联系。

可提供大包装样品或定制服务,量大优惠,请添加客服企业微信或拨打400电话进行咨询。


您正在浏览的产品:滤膜中锡分析质控样HJ 777-2015/HJ 657-2013

手机版:滤膜中锡分析质控样HJ 777-2015/HJ 657-2013

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

HJ 777-2015《空气和废气 颗粒物中金属元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》
适用范围

适用于环境空气、无组织排放和固定污染源废气中颗粒物锡(Sn)及其他金属元素的测定,检出限范围为0.003~0.09 mg/m³(具体以采样体积计)。

质控要求(滤膜分析相关)
空白控制 每批次样品需至少2个全程空白,空白值应低于方法检出限
校准曲线 线性相关系数≥0.999,每20个样品需用标准溶液校验
平行样 至少10%样品做平行测定,相对偏差≤15%
质控样 需使用有证标准物质或加标回收率(80%-120%)进行质量控制
《空气和废气 颗粒物中铅等金属元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》
适用范围

针对颗粒物中锡(Sn)、铅等金属元素的高灵敏度分析,适用于环境空气及污染源样品,锡的检出限为0.0002 mg/m³(采样体积按200 m³计)。

质控要求(滤膜分析相关)
内标校正 全程添加内标元素(如铑、铼),监控信号稳定性
空白实验 实验室空白值应低于方法检出限的1/3
质控样频次 每批样品(≤20个)插入1个有证标准物质,测定误差≤±20%
重复性 连续分析7次质控样,RSD≤10%
标准间关联与差异
项目 HJ 777-2015(ICP-OES) HJ 657-2013(ICP-MS)
适用场景 常规多元素同时分析 痕量/超痕量金属分析
锡检出限 0.03 μg/m³(按1 m³采样) 0.0002 mg/m³(高灵敏度)
质控核心 基体加标回收率控制 内标法+同位素稀释校正

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!