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Sn quality control in membrance
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

Sn quality control in membrance

BWZ7282-2016
¥ 240.0
¥ 240.0
3盒/套(1张/盒)
2026-09-26
伟业计量
3组分
+
≥10
滤膜中锡质控样品/GBZ/T 300.26-2017/HJ 657-2013/HJ 777-2015/GBZ/T 160.22-2004介绍:
一、基本信息:
基质滤膜
形态固态
有效期2026-09-26
存储条件冷藏(4±4)℃密闭条件下保存。本质量控制样品打开后应尽快使用,使用中严格防止沾污。
用途本质量控制样品可作为工作标准,用于日常分析和检测;也可用于检测方法评价和仪器校准等实验室质量控制。
别名
理化性质
稀释方法
二、样品制备:
本质量控制样品以滤膜为基质,在室温(20±3)℃洁净实验室中采用加标法制备而成。
三、溯源性及定值方法:
本质量控制样品的标准值采用测量值,并用电感耦合等离子体原子发射光谱法或原子吸收光谱法进行量值核验。通过使用满足计量学特性要求的制备、测量方法和计量器具,保证本质量控制样品量值的溯源性。
四、特征量值及扩展不确定度:
序号 组分 标准值 扩展不确定度(k=2) 基体
1锡(BWZ7282-2016-1)39.5μg/pc2.8μg/pc滤膜
2锡(BWZ7282-2016-2)20.1μg/pc1.7μg/pc滤膜
3锡(BWZ7282-2016-3)blank/滤膜
五、均匀性检验及稳定性考察:
参照JJF1343 国家计量技术规范(等效ISO指南35),对分装后的样品进行随机抽样,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对该标准物质进行均匀性检验和长期稳定性跟踪考察。结果表明:均匀性符合F检验规则,稳定性考察良好。
六、包装、储存及使用:
本标准物质采用塑料盒包装,规格3盒/套(1张/盒)携带或运输时应有防碎裂保护。
七、研制依据:
八、参考资料:

您正在浏览的产品:滤膜中锡质控样品/GBZ/T 300.26-2017/HJ 657-2013/HJ 777-2015/GBZ/T 160.22-2004

手机版:滤膜中锡质控样品/GBZ/T 300.26-2017/HJ 657-2013/HJ 777-2015/GBZ/T 160.22-2004

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

滤膜中锡质控样品涉及的标准解读
1. HJ 777-2015《空气和废气 颗粒物中金属元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》
适用范围

适用于环境空气、废气和无组织排放颗粒物中锡(Sn)及其他金属元素的测定,检测对象包含滤膜(如石英滤膜、聚丙烯滤膜等)采集的颗粒物样品。

关联内容
样品前处理 滤膜需经硝酸-氢氟酸微波消解或电热板消解
质控要求 要求使用有证标准物质(如颗粒物滤膜质控样)进行全过程质量控制,加标回收率需在80%-120%范围内
检出限

锡(Sn)的方法检出限为0.02 μg/m³(以标准采样体积100 m³计)。

2. 《水质 65种元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》
适用范围

适用于水中总锡的测定,包含滤膜过滤后水样(如溶解态与颗粒态分离场景)。

关联内容
质控要求 每批次需测定空白、平行样及锡标准溶液(如GBW08619水质标样),相对标准偏差≤15%
干扰消除 需使用铟(In)或锗(Ge)作为内标校正基体效应
检出限

锡(Sn)的方法检出限为0.0002 mg/L

3. HJ 776-2015《水质 32种元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》
适用范围

适用于水中总锡的测定,包含滤膜过滤后水样的分析(如悬浮物截留场景)。

关联内容
样品保存 滤膜样品需冷藏避光保存,建议7日内完成前处理
校准要求 标准曲线需覆盖0.01-1.0 mg/L浓度范围,相关系数≥0.995
检出限

锡(Sn)的方法检出限为0.005 mg/L

注:选择质控样品时需匹配实际检测方法(ICP-MS或ICP-OES),并确保基体与样品一致(如空气滤膜质控样或水样滤膜质控样)。

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!