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当前位置: 首页 产品中心 标准物质 基质类 混标 Eight inch thin film thickness(7nm~9nm)CRM of Al3O2
Eight inch thin film thickness(7nm~9nm)CRM of Al3O2
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

Eight inch thin film thickness(7nm~9nm)CRM of Al3O2

GBW(E)130740
¥ 41800.0
¥ 41800.0
7440-21-3
1片/盒
中国计量院
8.34【标准值(nm)】/不确定度:0.46
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八英寸晶圆级氧化铝薄膜厚度(7nm~9nm)标准物质介绍:


使用注意事项:使用环境尽量为超净室,否则将造成标准物质表面污染,且放置1个小时恢复到室温再使用,防止运输过程中的环境条件影响其几何特征量值;操作过程中不能用手直接触摸硅片,特别是硅片上扫描校准的区域,测量时必须佩戴手套,轻拿轻放,防止撞击。本标准物质开封后确保使用后无变形、无污染时在有效期内可重复使用。
特征形态:固态
主要分析方法:激光椭偏仪
定值单位:中国计量科学研究院#西安交通大学
规格:1片/盒
定级证书量值信息:
标准值不确定度(nm)单位CAS备注
八英寸晶圆级氧化铝薄膜厚度8.340.46标准值(nm)7440-21-3

应用领域:仪器检定/校准用标准物质/仪器检定/校准用标准物质
保存条件:本标准物质可在洁净环境中常温下存放。
研制单位名称:中国计量科学研究院#西安交通大学

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