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Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4

GBW13961
¥ 1980.0
¥ 1980.0
外包装为铝箔真空袋,每包装为一片,20 mm乘以20 mm
中国计量院
特性量 标准值(nm) 扩展不确定度(nm) (k=2) Si3N4层 52.57 0.28
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氮化硅薄膜膜厚标准物质介绍:

浓度/纯度/标准值:特性量 标准值(nm) 扩展不确定度(nm) (k=2) Si3N4层 52.57 0.28
使用注意事项:样品开封使用应保证取样工具等洁净避免沾污。建议本标准物质开封后用于一次检定/校准活动,在确保使用后无变形、无污染时可多次使用,但其量值仅可作为期间核查。
特征形态:固态
定值单位:中国计量科学研究院
规格:外包装为铝箔真空袋,每包装为一片,20 mm乘以20 mm
定级证书量值信息:
标准值不确定度单位CAS备注
氮化硅薄膜膜厚52.670.28nm

应用领域:仪器检定/校准用标准物质/仪器检定/校准用标准物质
保存条件:真空包装,阴凉、干燥处存放。
研制单位名称:中国计量科学研究院

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