美国PerkinElmer(PE)货号:L1360271 产品名称:IR耗材 AMTIR Flat Top Plate(AMTIR平顶板/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1201033 产品名称:IR耗材 Dewar Cap(杜瓦盖/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1360269 产品名称:IR耗材 Ge Flat Top Plate(Ge平顶板/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1360268 产品名称:IR耗材 Ge Trough Top Plate(锗槽形顶板/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1360273 产品名称:IR耗材 KRS-5 Flat Top Plate(KRS-5平顶板/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1200406 产品名称:IR耗材 Source(Source/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1201665 产品名称:IR耗材 THUMBSCREW(蝶形螺丝/)/Minor Accessory
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PE用铋灯
AS-2-Bi | 见证书
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1200308 产品名称:IR耗材 KBr Pair Sipper Cell Windows(KBr 配对进样池窗片/溴化钾窗片)/Consumable
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1860408 产品名称:IR耗材 Infared Polarizer Kit^(红外偏振器套件/)/Minor Accessory
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美国PerkinElmer(PE)货号:04978443 产品名称:IR耗材 Heated Plate, 220/240 V(加热板, 220/240 V/)/Minor Accessory
04978443 | /
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1200334 产品名称:IR耗材 Ge 45 Degree Trough Top-Plate(Ge 45度槽型顶板/钢铁制板)/Minor Accessory
L1200334 | /
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1600246 产品名称:IR耗材 SP2 Wireless Router Kit(SP2无线路由器套件/)/Minor Accessory
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IR耗材 AMTIR平顶板 (货号: L1360271)
基本信息
产品特性
应用领域
产品优势
典型应用案例
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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。
GB/T 21186-2020《傅里叶变换红外光谱分析方法通则》
适用范围
本标准适用于固体、液体及气体样品的红外光谱定性及定量分析,涵盖ATR(衰减全反射)等附件使用场景,与AMTIR平顶板适配的红外检测技术直接相关。
核心检测方法
采用ATR技术时,样品需直接接触AMTIR材质表面,通过红外光全反射获取样品吸收光谱,适用于不透明或高吸光度样品。
检出限与定量限
检出限通常为0.1%~1%(取决于样品类型),定量限需通过标准曲线法或内标法验证。
质控样品要求
需定期使用聚苯乙烯标准膜(厚度≤0.1mm)校准仪器,确保波数精度误差≤±4 cm⁻¹。
关键实验步骤
1. 清洁AMTIR表面(建议使用异丙醇)
2. 样品均匀覆盖检测区域
3. 施加恒定压力(通常1~5N)
4. 采集背景及样品光谱
特别说明
AMTIR材质需避免接触强酸强碱,使用后需立即清洁以防表面钝化影响光学性能。
JJG 681-2020《傅里叶变换红外光谱仪检定规程》
适用范围
规定红外光谱仪性能验证要求,包含ATR附件的能量通量、波数重复性等关键参数校准。
核心检测方法
通过测量标准物质(如聚苯乙烯薄膜)的透射比偏差及波数位移,评估AMTIR附件的光学性能稳定性。
检出限与定量限
不直接规定检测限,但要求信噪比≥10000:1(4cm⁻¹分辨率下)。
质控样品要求
检定需使用国家二级标准物质(如GBW(E)130528聚苯乙烯薄膜)。
关键实验步骤
1. AMTIR表面平整度检查(干涉条纹法)
2. 重复性测试(连续6次采样)
3. 能量分布均匀性验证
特别说明
检定周期建议不超过12个月,若更换AMTIR光学元件需重新检定。
GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围
通用性红外分析技术规范,涵盖透射法、ATR法等样品制备要求。
核心检测方法
规定样品与AMTIR晶体的接触面积应>70%,接触压力需记录在原始数据中。
检出限与定量限
需通过方法验证确定,相对标准偏差(RSD)应≤5%。
质控样品要求
每批次检测需包含空白对照及已知浓度标准品。
关键实验步骤
1. 背景扫描(干燥环境)
2. 样品接触时间控制(通常5-30秒)
3. 数据采集参数记录(分辨率≥4cm⁻¹)
特别说明
高吸湿性样品需在惰性气体环境下操作以防AMTIR表面结露。
以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!