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美国PerkinElmer(PE)货号:L1360269 产品名称:IR耗材 Ge Flat Top Plate(Ge平顶板/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1360269 产品名称:IR耗材 Ge Flat Top Plate(Ge平顶板/)/Minor Accessory

L1360269 Ge Flat Top Plate {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:L1360269 产品名称:IR耗材 Ge Flat Top Plate(Ge平顶板/)介绍:

IR耗材 Ge Flat Top Plate (Ge平顶板)

基本信息

  • 货号:L1360269
  • 产品名称:Ge Flat Top Plate
  • 制造商:美国PerkinElmer (PE)
  • 类别:红外光谱(IR)耗材
  • 材质:高纯度锗(Ge)晶体
  • 表面处理:平顶设计,高精度抛光
  • 尺寸:直径50mm × 厚度3mm
  • 包装规格:10片/盒

产品特性

  • 高透光率:适用于中红外(MIR)光谱分析,确保信号精准采集。
  • 平顶设计:提供均匀的样品接触面,适用于ATR(衰减全反射)技术。
  • 耐腐蚀性:化学惰性材质,可耐受酸、碱及有机溶剂。
  • 高机械强度:抗刮擦性能优异,适合重复使用。
  • 超光滑表面:降低光散射,提升光谱数据信噪比。

应用领域

  • 红外光谱仪样品支撑与检测
  • 材料表面化学结构分析
  • 制药行业活性成分定性研究
  • 化工材料质量控制
  • 环境污染物快速检测

产品优势

  • 高兼容性:适配PerkinElmer Spectrum™系列、Frontier™系列等主流红外设备。
  • 即用型设计:无需复杂预处理,节省实验时间。
  • 长使用寿命:精密加工工艺保障长期稳定性。
  • 符合ISO标准:生产流程通过严格质量控制认证。

应用案例

  • 制药分析:用于某抗生素药物的结晶形态检测,准确区分多晶型结构。
  • 高分子材料:在聚乙烯薄膜表面氧化程度研究中提供高分辨率光谱数据。
  • 环境检测:支持水体中微量有机污染物的快速ATR-FTIR筛查。

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准《红外光谱分析方法通则》解读
标准名称及标准号 GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围 适用于红外光谱法对有机、无机及高分子材料的定性与定量分析,包含固体、液体及气体样品,需配合Ge平顶板等红外透射附件使用。
核心检测方法 1. 样品制备采用压片法(适用于固体粉末)或液膜法(适用于液体);
2. 仪器需预先校正波数和透射率;
3. 光谱扫描范围建议4000-400 cm⁻¹,分辨率≤4 cm⁻¹。
检出限与定量限 检出限通常为0.1%(质量分数),定量限为0.5%(质量分数),具体取决于样品基质及特征峰强度。
质控样品要求 1. 每批次检测需包含空白对照与已知标准物质(如聚苯乙烯薄膜);
2. 标准物质光谱应与数据库匹配度≥95%;
3. 定期验证仪器信噪比(S/N>100)。
关键实验步骤 1. Ge平顶板使用前需用无水乙醇清洁并干燥;
2. 固体样品需研磨至2 μm以下并与KBr混合压片;
3. 测试时需扣除背景(空气或空白载体光谱)。
特别说明 Ge平顶板适用于高折射率样品(如橡胶、深色材料),测试后需及时清除残留样品,避免表面划伤影响透射率。

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