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美国PerkinElmer(PE)货号:L1280321 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT(FRT/SP3 基础型水平衰减全反射/扁平附件/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1280321 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT(FRT/SP3 基础型水平衰减全反射/扁平附件/)/Minor Accessory

L1280321 FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:L1280321 产品名称:IR耗材 FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT(FRT/SP3 基础型水平衰减全反射/扁平附件/)介绍:

IR耗材 FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT 附件

基本信息
  • 货号: L1280321
  • 产品名称: FRT/SP3 BASIC HATR/FLAT 附件
  • 品牌: 美国PerkinElmer(PE)
  • 类型: 红外光谱(IR)分析耗材
  • 适用仪器: 兼容PerkinElmer及其他主流FT-IR光谱仪
  • 附件形态: 水平衰减全反射(HATR)扁平设计
产品特性
  • 采用高精度HATR技术,支持非破坏性样品分析
  • 扁平附件设计,适用于固体、薄膜及粘稠液体样品
  • 高反射率晶体材料(如ZnSe或KRS-5),确保高信噪比
  • 模块化结构,安装快速且兼容性强
  • 耐腐蚀材质,适应严苛实验环境
应用领域
  • 材料科学:高分子材料、涂料、塑料表面分析
  • 制药行业:药物活性成分(API)的定性检测
  • 化工领域:有机化合物结构鉴定
  • 食品安全:食品添加剂或污染物快速筛查
  • 法医分析:微量物证非破坏性检测
产品优势
  • 高效采样:无需复杂前处理,节省实验时间
  • 广泛适用性:支持多种物态样品直接测试
  • 数据可靠:高灵敏度晶体确保光谱重复性
  • 操作简便:一键式角度调节与压力控制
  • 长寿命设计:可更换晶体模块降低使用成本
典型应用案例
  • 案例1: 某实验室使用本附件完成聚合物涂层的氧化降解分析,精准识别羰基峰变化
  • 案例2: 制药企业用于检测片剂包衣均匀性,优化生产工艺参数
  • 案例3: 食品安全机构快速筛查食用油中非法添加物,单次检测仅需3分钟

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1. 《红外光谱分析方法通则》
标准名称及标准号GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围适用于各类材料(固体、液体、气体及薄膜)的红外光谱分析,包含衰减全反射(ATR)等附件技术的应用。
核心检测方法采用ATR附件进行样品表面无损检测,直接采集红外光谱信号,适用于非均质或难制样样品。
检出限与定量限检出限通常为0.1%~1%(取决于样品性质),定量限需通过实际样品验证后确定。
质控样品要求需使用已知光谱特征的标准物质(如聚苯乙烯薄膜)进行仪器校准及附件性能验证。
关键实验步骤1. ATR附件光路校准
2. 样品与晶体表面紧密接触
3. 设置扫描次数与分辨率参数
4. 背景扣除及光谱基线校正
特别说明使用扁平ATR附件时需注意晶体材质(如ZnSe、Ge等)的折射率匹配,避免样品与晶体接触不良导致信号失真。
2. 《高分子材料 红外光谱衰减全反射(ATR)测试方法》
标准名称及标准号GB/T 32199-2015《高分子材料 红外光谱衰减全反射(ATR)测试方法》
适用范围专用于橡胶、塑料等高分子材料的ATR法红外光谱分析,包括表面涂层及多层材料检测。
核心检测方法规定高分子样品与ATR晶体接触压力、扫描深度等参数,确保光谱信号重复性。
质控样品要求需定期使用聚乙烯标准膜验证光谱分辨率及波数准确性,偏差需小于±2 cm-1
3. 《傅里叶变换红外光谱仪》
标准名称及标准号GB/T 21186-2007《傅里叶变换红外光谱仪》
关键实验步骤明确ATR附件的安装校准流程,要求仪器信噪比≥20,000:1(4 cm-1分辨率下)。

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