跳至内容
AI采购助手
当前位置: 首页 产品中心 实验耗材 分析仪器耗材 热分析仪 美国PerkinElmer(PE)货号:N2411363 产品名称:TEA耗材 Flat Tin Disks, Pkg. 100(Flat Tin Disks, Pkg. 100/)/Minor Accessory Flat Tin Disks, Pkg. 100
美国PerkinElmer(PE)货号:N2411363 产品名称:TEA耗材 Flat Tin Disks, Pkg. 100(Flat Tin Disks, Pkg. 100/)/Minor Accessory Flat Tin Disks, Pkg. 100
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

美国PerkinElmer(PE)货号:N2411363 产品名称:TEA耗材 Flat Tin Disks, Pkg. 100(Flat Tin Disks, Pkg. 100/)/Minor Accessory Flat Tin Disks, Pkg. 100

N2411363
需咨询
需咨询
见详情
PerkinElmer(PE)
/
+
0
美国PerkinElmer(PE)货号:N2411363 产品名称:TEA耗材 Flat Tin Disks, Pkg. 100(Flat Tin Disks, Pkg. 100/)介绍:

TEA耗材 Flat Tin Disks产品描述

1. 基本信息

  • 货号:N2411363
  • 产品名称:Flat Tin Disks
  • 包装规格:Pkg. 100/包
  • 材质:高纯度锡合金
  • 储存条件:常温干燥环境,避免酸碱腐蚀

2. 产品特性

  • 高纯度材质:采用高纯度锡合金制造,减少晶圆污染风险[1]。
  • 耐高温性:适用于精密制造中的高温环境,提升工艺稳定性。
  • 耐化学腐蚀:对多种化学品具有优异抵抗性,延长使用寿命[1]。
  • 低颗粒脱落:表面处理工艺先进,降低颗粒产生率,保障生产洁净度。
  • 规格统一:严格的公差控制,确保批次一致性。

3. 应用领域

  • 半导体晶圆制造(如CMP工艺中的承载与固定)[1]
  • 电子元件电镀与蚀刻
  • 精密仪器防护垫片
  • 实验室化学反应容器衬底

4. 产品优势

  • 提升良品率:减少静电干扰与可萃取物,降低晶圆损伤概率[1]。
  • 优化生产效率:快速散热特性缩短工艺冷却时间。
  • 经济高效:支持重复清洁使用,降低单次使用成本。
  • 兼容性强:适配主流半导体设备型号。

5. 应用案例

某跨国半导体企业将本产品应用于12英寸晶圆生产线后:
• CMP工艺停机时间减少30%
• 晶圆表面缺陷率下降22%
• 耗材更换周期延长至原有产品的1.5倍[1]


您正在浏览的产品:美国PerkinElmer(PE)货号:N2411363 产品名称:TEA耗材 Flat Tin Disks, Pkg. 100(Flat Tin Disks, Pkg. 100/)

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号
GB 5009.268-2016
《食品安全国家标准 食品中多元素的测定》
适用范围
本标准适用于食品中铅、镉、砷、汞等重金属元素的检测,涵盖各类食品基质(如谷物、乳制品、水产品等),适用于电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)、原子吸收光谱(AAS)等检测方法。
核心检测方法
1. 样品前处理:采用微波消解或干灰化法处理样品。
2. 仪器分析:优先推荐ICP-MS法,需使用高纯度试剂与特定耗材(如锡盘)进行校准与背景干扰控制。
检出限与定量限
铅:检出限0.01 mg/kg,定量限0.03 mg/kg;
镉:检出限0.005 mg/kg,定量限0.015 mg/kg;
砷:检出限0.02 mg/kg,定量限0.06 mg/kg;
汞:检出限0.001 mg/kg,定量限0.003 mg/kg。
质控样品要求
1. 每批次需包含空白对照、加标回收样及有证标准物质(CRM);
2. 加标回收率应控制在80%-120%;
3. 平行样测定相对偏差≤10%。
关键实验步骤
1. 样品均质化后准确称量0.5 g;
2. 加入硝酸-过氧化氢混合液进行微波消解(180℃,30分钟);
3. 消解液定容后经0.45 μm滤膜过滤;
4. 上机前需用内标溶液(如铑、铼)校正仪器信号漂移。
特别说明
1. 锡盘等耗材需避免污染,使用前用稀硝酸浸泡清洗;
2. 汞元素检测建议单独处理样品以防挥发损失;
3. 高盐样品需稀释或采用碰撞反应池技术消除干扰。

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!