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美国PerkinElmer(PE)货号:L1200335 产品名称:IR耗材 Ge 60 Degree Flat Top-Plate(锗60度平顶板/)/Minor Accessory_
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美国PerkinElmer(PE)货号:L1200335 产品名称:IR耗材 Ge 60 Degree Flat Top-Plate(锗60度平顶板/)/Minor Accessory

L1200335 Ge 60 Degree Flat Top-Plate {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 见详情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
美国PerkinElmer(PE)货号:L1200335 产品名称:IR耗材 Ge 60 Degree Flat Top-Plate(锗60度平顶板/)介绍:

IR耗材 Ge 60度平顶板(货号:L1200335)

1. 基本信息

  • 品牌:美国PerkinElmer(PE)
  • 货号:L1200335
  • 材质:高纯度锗(Ge)
  • 设计:60度平顶结构
  • 适用仪器:PerkinElmer红外光谱仪(如Spectrum Two系列)及兼容设备

2. 产品特性

  • 高透光性:锗材质在红外波段(2-16μm)具有优异的光学透过率,确保高灵敏度检测。
  • 耐腐蚀性:适用于强酸、强碱及有机溶剂环境,长期稳定性强。
  • 平顶设计:60度平整表面优化样品接触,减少光散射,提升信号一致性。
  • 标准化适配:专为PerkinElmer仪器设计,安装便捷,兼容性可靠。

3. 应用领域

  • 材料科学:高分子材料、半导体薄膜的红外光谱分析。
  • 制药行业:原料药、辅料及成品的成分鉴定与质量控制。
  • 化学研究:有机/无机化合物结构解析与反应监测。
  • 环境检测:污染物(如微塑料)的快速定性分析。

4. 产品优势

  • 原装品质:PerkinElmer原厂生产,严格符合ISO标准。
  • 精准适配:专为红外光谱仪优化设计,确保数据准确性。
  • 长寿命:锗材质抗磨损性强,降低频繁更换成本。
  • 广泛适用性:支持固体、液体、薄膜等多种样品形态分析。

5. 典型应用案例

案例1:高分子材料分析
在聚合物薄膜的红外透射测试中,平顶板设计有效减少光路畸变,准确识别聚乙烯氧化降解产物。

案例2:药物质量控制
用于药片包衣厚度的红外反射测量,60度角优化入射光反射路径,提升层厚分辨率至微米级。


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国家标准《红外光谱分析方法通则》解读
标准名称及标准号
GB/T 6040-2019《红外光谱分析方法通则》
适用范围
本标准适用于利用红外光谱法对有机、无机及高分子材料进行定性或定量分析,包含样品制备、仪器校准及数据解析等环节,适用于锗晶体等红外透射或反射附件。
核心检测方法
1. 透射法:通过测量样品对红外光的吸收强度进行分析;
2. 反射法(含ATR技术):利用锗晶体等高折射率材料实现衰减全反射,适用于固体或液体样品快速检测。
检出限与定量限
检出限取决于仪器信噪比及样品性质,通常为0.1%-1%(质量分数);定量限需通过标准曲线法验证,一般高于检出限3-10倍。
质控样品要求
1. 使用经认证的标准物质(如聚苯乙烯薄膜)进行仪器性能验证;
2. 实验过程中需设置空白对照及平行样,相对偏差应小于5%。
关键实验步骤
1. 锗晶体表面清洁:使用无水乙醇及惰性气体吹扫去除污染物;
2. 压力控制:确保样品与晶体接触面均匀,避免过度施压导致晶片破损;
3. 背景扣除:每次实验前需采集空白背景光谱。
特别说明
锗晶体在6,000-600 cm⁻¹波段具有高透过率,但易受潮氧化,需保存在干燥环境中,定期进行折射率校验。
行业标准JJG 681-2005《红外分光光度计检定规程》关联内容
标准名称及标准号
JJG 681-2005《红外分光光度计检定规程》
适用范围
针对红外分光光度计的性能检定,包括波数准确性、分辨率、信噪比等指标,涉及锗晶体等附件的校准要求。
核心检测方法
1. 波数校准:使用聚苯乙烯薄膜特征吸收峰(如1,601 cm⁻¹)校验仪器;
2. 能量测试:通过100%线平直度评估光学系统性能。
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