二氧化硅（膜）系列标准物质_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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二氧化硅（膜）系列标准物质

GBW(E)130145

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以片为单元，木盒包装

萘析精选

93.0【标准值】/不确定度：0.4

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二氧化硅（膜）系列标准物质介绍：

使用注意事项：使用时应严格保持表面清洁，不得损伤表面。
特征形态：固态
定值单位：上海市计量测试技术研究院#
规格：以片为单元，木盒包装
定级证书量值信息：

	标准值	不确定度	单位	CAS	备注
膜厚（nm）	93.0	0.4	标准值

保存条件：干燥器中保存
研制单位名称：上海市计量测试技术研究院#

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

1. 标准名称及标准号

GB/T 30544.13-2018

纳米科技术语第13部分：石墨烯及相关二维材料

2. 适用范围

适用于以二氧化硅膜为载体的纳米材料（如石墨烯）的检测，包括厚度、成分分析及表面特性表征。

3. 核心检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）	用于测定二氧化硅膜中硅元素含量及杂质分析。
原子力显微镜（AFM）	用于表面形貌及厚度测量，分辨率达纳米级。

4. 检出限与定量限

XRF法检出限	0.1 μg/cm²（硅元素）
AFM定量限	厚度测量误差≤±0.5 nm（标准膜厚范围1-100 nm）。

5. 质控样品要求

平行样数量	每组检测至少包含3个平行样品。
加标回收率	需控制在85%-115%，使用有证标准物质验证。

6. 关键实验步骤

样品制备	需在洁净室环境中进行，避免颗粒污染。
仪器校准	每日使用前需用标准硅片进行AFM及XRF校准。

7. 特别说明

环境要求	检测环境湿度需≤40%，温度控制在20±2℃。
数据记录	原始数据需包含仪器参数、环境条件及质控结果。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！