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二氧化硅_60676-86-0
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二氧化硅

H17189-10g Silicon dioxide {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 60676-86-0 10g {{goodObj.date}} 万佳 {{item.norm}} SP {{inventory}} 常温避光
二氧化硅介绍:

【产品编号】H17189-10g

【CAS.编号】60676-86-0

【中文名称】二氧化硅

【英文名称】Silicon dioxide

【标准值】SP

【产品规格】10g

【主要用途】本品仅用于实验室科研使用。

【保存条件】室温避光

【注意事项】

二氧化硅相关产品:
标物编号产品名称CAS NO标准值规格价格库存有效期至
H17503
二氧化硅
60676-86-0
99.99% metals basis,粒径:5um
100g
132现货
H17503-25g
二氧化硅
60676-86-0
99.99% metals basis,粒径:5um
25g
52现货——
H17189-10g
二氧化硅
60676-86-0
SP
10g
60现货——
H17189-50g
二氧化硅
60676-86-0
SP ≥99.9%
50g
120现货——
BW00773a-9
水中二氧化硅
——
10μg/L
100mL
160≥52025-10-15
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水中二氧化硅
——
500μg/mL
50mL
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水中二氧化硅
——
80μg/L
100mL
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BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
20mL
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BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
50mL
6032026-06-23
BW00773-1
水中二氧化硅
——
100μg/mL
1L
90022026-06-24
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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准GB/T 20020-2013《气相二氧化硅》解读
标准名称及标准号 GB/T 20020-2013《气相二氧化硅》
适用范围 适用于气相法生产的二氧化硅,包括工业用高纯度二氧化硅的检测,涵盖比表面积、灼烧减量、pH值等指标。
核心检测方法 氮吸附法(BET法)测定比表面积;重量法测定灼烧减量;电位滴定法测定pH值;电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)测定金属杂质含量。
检出限与定量限 金属杂质检测限为0.1 mg/kg(ICP-OES);比表面积测定重复性误差≤3%。
质控样品要求 需使用标准物质进行仪器校准,平行样检测偏差≤5%,每批次样品需包含空白对照和加标回收实验。
关键实验步骤 样品预处理需在105℃干燥2小时;BET测试需在液氮温度下进行;ICP-OES分析前需微波消解处理。
特别说明 实验环境需控制湿度<40%,避免样品吸潮影响灼烧减量结果;金属杂质检测需使用高纯硝酸消解。
行业标准HG/T 3061-2009《橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅》解读
标准名称及标准号 HG/T 3061-2009《橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅》
适用范围 专用于橡胶工业中沉淀法生产的水合二氧化硅,检测指标包括二氧化硅含量、加热减量、DBP吸收值等。
核心检测方法 灼烧法测定二氧化硅含量;烘箱法测定加热减量;滴定法测定pH值;DBP吸收值测定采用扭矩流变法。
质控样品要求 需进行粒度分布验证,样品需过200目筛;DBP吸收值测定需控制环境温度25±1℃。
关键实验步骤 二氧化硅含量测定需马弗炉900℃灼烧至恒重;DBP吸收值测试需使用扭矩流变仪,终点判定以扭矩值突变为准。
特别说明 沉淀法样品需特别注意未反应硅酸盐残留,检测前需用去离子水洗涤至电导率<50 μS/cm。

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