二氧化硅质控样_单标_有机类_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

二氧化硅质控样

NSI_QCI-101

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

见证书

萘析精选

需预定货期45天左右

猜您喜欢

二氧化硅质控样介绍：

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

1. 标准名称及标准号

GB/T 30449-2013 纳米二氧化硅表征方法

2. 适用范围

适用于纳米二氧化硅粉体及分散液中化学成分、粒径分布、比表面积等性能的表征与检测。

3. 核心检测方法

采用X射线荧光光谱法（XRF）测定化学成分，激光粒度分析法（LDA）测定粒径分布，氮气吸附法（BET）测定比表面积。

4. 检出限与定量限

XRF法对二氧化硅主成分的检出限为0.01%，定量限为0.05%；LDA法粒径检测范围为10 nm-3 μm，相对误差≤5%。

5. 质控样品要求

质控样需满足均匀性（RSD≤3%）、稳定性（12个月内特性值变化＜5%），并具备可溯源的定值报告，定值方法需符合JJF 1343要求。

6. 关键实验步骤

样品前处理需在万级洁净环境下完成；XRF测试需用硼酸镶边压片法制样；LDA测试需超声分散至半透明状态后进样。

7. 特别说明

检测纳米材料时需注意团聚效应，建议采用场发射扫描电镜（FE-SEM）作为辅助验证手段，实验室温湿度应控制在23±2℃、45±10%。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！