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高纯偏硼酸锂99.99%_
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高纯偏硼酸锂99.99%

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高纯偏硼酸锂99.99%介绍:

产品特点简介:
X荧光用助剂

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号
GB/T 30902-2014
无机化工产品 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)
适用范围
适用于高纯偏硼酸锂(纯度≥99.99%)中痕量杂质元素的测定,包括碱金属、碱土金属、稀土元素及过渡金属等38种元素。检测浓度范围0.001μg/g~100μg/g。
核心检测方法
1. 样品经硝酸-氢氟酸体系微波消解
2. 采用内标法(铑、铼)校正基体效应
3. ICP-MS测定:RF功率1550W,雾化气流速0.8L/min
4. 碰撞反应池技术消除多原子离子干扰
检出限与定量限
元素类型 检出限(μg/g) 定量限(μg/g)
碱金属(Na,K) 0.0005 0.002
重金属(Cd,Pb) 0.0003 0.001
稀土元素 0.0002 0.0008
质控样品要求
1. 每批次带空白对照(超纯水+酸体系)
2. 加标回收率控制:85%~115%
3. 标准物质:NIST SRM 610(玻璃标准物质)
4. 平行样数量≥总样品数的20%
5. 内标响应波动≤±15%
关键实验步骤
1. 样品前处理:称取0.5g样品于PTFE消解罐,加入3mL HNO₃+1mL HF
2. 微波消解程序:180℃/20min→220℃/30min(梯度升温)
3. 赶酸:150℃加热至近干,1% HNO₃定容至50mL
4. 仪器调谐:优化Li、CeO、Ba²⁺等氧化物产率<3%
5. 校准曲线:0.1、0.5、1、5、10、50、100μg/L梯度
特别说明
1. 硼酸基体干扰处理:必须采用氢氟酸完全分解硼酸盐结构
2. 记忆效应控制:样品间需用5% EDTA溶液冲洗进样系统
3. 锂基体干扰校正:需监控⁷Li⁴⁰Ar⁺对⁴⁷Ti⁺的干扰
4. 实验室环境要求:洁净室(Class 1000)操作,防止环境沾污
5. 容器选择:使用PFA材质器皿,避免玻璃器皿溶出污染

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