• 欢迎来到萘析商城
当前位置: 首页 标准物质 基质类 混标 内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G
内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G_
图片仅供参考,具体产品以实物为准!

内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G

BIIS-100G {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 100G {{goodObj.date}} VHG {{item.norm}} 见详情 {{inventory}}
内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G介绍:
            美国VHG公司是世界最大的生产金属油基和水基标准样品的公司之一,为分析化学领域提供高质量的产品和服务。VHG  Labs的所有产品均符合ASTM、NIST  等国际标准,通过ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005认证,所有产品配有全面分析证明书(Certificate Of  Analysis,COA)。VHG Labs 的金属有机标样通过 ICP、AA、RDE、DC、XRF  等仪器来分析测定油和有机溶剂中的金属。另外,还提供符合 ASTM 标准的含硫、氯和金属标样用于石油类产品的检测。            内标标样,适用于XRF分析            Internal Standards for XRF Analysis  
无硫原材料,内标标样,适用于 XRF 分析
元素方法浓度产品编号产品编号
BiASTM D5059 Pb分析0.793g/LBIIS-100GBIIS-400G
MnISO/CD 14596 Ni and V分析0.05%MNIS-100GMNIS-400G
ZrISO/CD 14597 低硫分析1%ZRIS1%-100GZRIS1%-400G
ZrISO/CD 14597 高硫分析16%ZRIS16%-100GZRIS16%-400G
              
无硫原材料,内标标样,适用于 XRF 分析
元素方法浓度产品编号产品编号
BiASTM D5059 Pb分析0.793g/LBIIS-100GBIIS-400G
MnISO/CD 14596 Ni and V分析0.05%MNIS-100GMNIS-400G
ZrISO/CD 14597 低硫分析1%ZRIS1%-100GZRIS1%-400G
ZrISO/CD 14597 高硫分析16%ZRIS16%-100GZRIS16%-400G

您正在浏览的产品:内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G

手机版:内标标样适用于XRF分析/BIIS-100G

以上信息仅供参考,请以实物批次为准!

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。

国家标准解读:GB/T 16597-2019
标准名称及标准号
GB/T 16597-2019《冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则》
适用范围
适用于冶金产品(钢铁、合金、有色金属等)中多种元素的X射线荧光光谱定量分析,包含内标法的应用规范。适用于波长色散型和能量色散型XRF仪器。
核心检测方法
1. 内标法:添加BIIS-100G等内标元素校正基体效应和仪器波动
2. 熔融玻璃片法:消除矿物效应和颗粒度影响
3. 经验系数法:校正元素间吸收增强效应
4. 基本参数法:理论计算元素间相互作用
检出限与定量限
检出限(LOD):0.001%~0.01%(元素含量)
定量限(LOQ):0.005%~0.05%(元素含量)
注:具体限值取决于元素种类、基体复杂度及内标元素选择
质控样品要求
1. 标准物质:需2个以上有证标准物质(CRM)
2. 基体匹配:与待测样品基体相似度≥90%
3. 元素覆盖:包含所有待测元素及内标元素
4. 浓度梯度:覆盖待测元素浓度范围
5. 稳定性验证:每批样品测试需带质控样
关键实验步骤
内标处理:
1. 精确加入BIIS-100G内标溶液(浓度误差≤0.5%)
2. 混合研磨至粒度≤50μm

制样:
3. 熔融法制样(1050℃±50℃熔融,稀释比1:10)
4. 压片法制样(压力≥20T,保压60s)

测试:
5. 建立校准曲线(R²≥0.999)
6. 真空测试(轻元素需≤10Pa真空度)
特别说明
1. 内标元素选择:须满足物理化学性质稳定、无谱线干扰、无基体元素影响
2. 基体校正:Fe、Co、Ni等过渡元素需做二次校正
3. 湿度控制:制样环境湿度≤40%RH
4. 仪器校准:需每4小时监控PHA基线漂移
5. 结果验证:必须采用不同原理方法(如ICP-OES)比对关键元素

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!