介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质_混标_基质类_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质

GBW13909

CRMs for Specific Surface Area, Total Pore Volume and Pore Diameter of Mesoporous SiO2

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

每瓶5g

中国计量院

比表面积（m2/g）：492 ± 15；总孔容（cm3/g）：0.793 ± 0.024；平均孔径（nm）：6.47 ± 0.13；BJH最可几孔径（nm）：5.51 ± 0.11

常温储存

常温运输

猜您喜欢

介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质
GBW13910 | 比表面积：（310.0±6.7）m2/g；总孔容：（0.875±0.019）cm3/g；平均孔径：（11.29±0.24）nm；最可几孔径：（7.67±0.16）nm
介孔三氧化二铝比表面积、总孔容及孔径标准物质
GBW13911 | 比表面积：（102.5±4.0）m2/g；总孔容：（0.259±0.009）cm3/g；平均孔径:（10.11±0.35）nm。
介孔三氧化二铝比表面积、总孔容及孔径标准物质
GBW13912 | 比表面积：（102.9±3.5）m2/g，总孔容：（0.260±0.012）cm3/g，平均孔径：（10.11±0.30）nm，最可几孔径：（6.25±0.10）nm
三氧化二铝比表面积标准物质
GBW13913 | 标准值：4.67 m2/g，扩展不确定度：0.19 m2/g
低比表面积标准物质
GBW(E)130365 | （0.182±0.011）m2/g
微孔孔容、孔径标准物质
GBW(E)130366 | 微孔孔容（cm3/g）：0.242±0.008，微孔孔径（nm）：0.668±0.019。
二氧化硅比表面积、孔容和孔径标准物质
GBW13902 | 见证书

介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质介绍：

浓度/纯度/标准值：比表面积（m2/g）：492 ± 15；总孔容（cm3/g）：0.793 ± 0.024；平均孔径（nm）：6.47 ± 0.13；BJH最可几孔径（nm）：5.51 ± 0.11
使用注意事项：本标准物质在分析测量前应进行前处理，即200℃下真空脱气至少5小时、并缓慢冷却至室温后再使用。样品不能重复使用。
特征形态：固态
主要分析方法：比表面积、总孔容及孔径法#
规格：每瓶5g
定级证书量值信息：

	标准值	不确定度	单位
总孔容	0.806	0.021	cm³/g
比表面积	511	15	m²/g
平均孔径	6.31	0.10	nm
BJH最可几孔径	5.37	0.08	nm

应用领域：工程技术及高聚物/表面积及微孔特性
保存条件：贮存在阴凉干燥的室温环境中，运输过程中必须保持包装瓶的完整。
研制单位名称：中国计量科学研究院

您正在浏览的产品：介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质

手机版：介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

相关标准解读（按相关度排序）

《气体吸附BET法测定固体材料比表面积》

适用范围：

适用于介孔材料（孔径2-50 nm）的比表面积测定，覆盖0.1-1000 m²/g范围，包含介孔二氧化硅的表征。

关键技术：

• 要求使用87 K液氮环境下的氮气吸附等温线

• 明确BET理论适用范围（C值判定）

• 规定相对压力范围0.05-0.3之间的数据采集点

检出限与精度：

• 最低检出比表面积0.1 m²/g

• 重复性要求≤3% RSD

• 标准物质验证偏差应＜±5%

GB/T 21650.3-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度第3部分：气体吸附法分析微孔》

适用范围：

专为介孔材料孔径分析设计，明确包含BJH法和DH法的应用规范。

核心参数：

• 孔径测量范围1.7-300 nm（覆盖介孔全区间）

• 总孔容测定精度要求±0.02 cm³/g

• 规定脱气预处理条件（温度150℃±5℃，时间≥6h）

数据验证：

要求使用经认证的介孔二氧化硅标准物质进行仪器校准，标准物质参数应包括：

• 比表面积标称值±3%

• 最可几孔径偏差≤0.5 nm

• 孔容不确定度＜0.02 cm³/g

GB/T 21650.2-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔》

方法对比：

与GB/T 21650.3形成方法互补，重点规定：

• 介孔段（2-50 nm）的吸附-脱附回滞环分析

• 不同孔型（墨水瓶孔、狭缝孔等）的判定标准

• 多重吸附层厚度计算模型选择原则

质控要求：

• 标准物质验证周期≤6个月

• 仪器空白值要求＜0.5 cm³/g STP

• 孔径分布重复性误差≤5%

注：标准物质应选择通过CNAS认证的参照物质，典型技术指标包括比表面积（如300±15 m²/g）、最可几孔径（如3.8±0.2 nm）、总孔容（如0.65±0.03 cm³/g）等参数，需提供可溯源至国家计量基准的证书。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！