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硅质控样品

GBQC(E)01-0049

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20mL

国家有色金属

4.5mg/L

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NCSZ-K-80μg/L | 80μg/L
硅
W10116-50g | ≥99% metals basis, powder,−325 mesh

硅质控样品介绍：

硅质控样品

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硅质控样品相关标准解读

1. GB/T 6730.9-2016《铁矿石硅含量的测定硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法》

适用范围：铁矿石、铁精矿及人造富矿中硅含量的测定，测定范围0.10%~5.00%

关联内容：

• 规定对硅质控样品的处理要求：样品需研磨至粒径≤0.100 mm

• 明确质控样应与待测样品基体匹配，推荐使用CRM（有证标准物质）进行校准

检出限：方法检出限为0.02%（以SiO₂计），定量限为0.05%

2. GB/T 14840-2010《工业硅化学分析方法》

适用范围：工业硅中硅含量的测定（Si≥98.5%），适用于冶金级、化学级工业硅

关联内容：

• 规定质控样需与待测样品具有相同物理状态（块状或粉状）

• 要求每批次检测至少插入2个质控样（标准物质）进行过程控制

测定范围：本方法适用于硅含量≥98.5%的样品，相对标准偏差应≤0.15%

3. YS/T 739-2010《硅质材料化学分析方法》

适用范围：高纯硅、多晶硅等硅质材料中杂质元素的测定

质控要求：

• 要求使用经CNAS认可的标准物质作为质控样

• 规定质控样需与待测样品同步进行消解处理

检出限：对痕量杂质的检出限可达0.1μg/g（ICP-MS法）

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