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硅质控样品

GBQC(E)01-0049 {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 20mL {{goodObj.date}} 国家有色金属 {{item.norm}} 4.5mg/L {{inventory}} 常温储存 常温运输
硅质控样品介绍:

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硅质控样品相关标准解读
1. GB/T 6730.9-2016《铁矿石 硅含量的测定 硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法》

适用范围:铁矿石、铁精矿及人造富矿中硅含量的测定,测定范围0.10%~5.00%

关联内容:

• 规定对硅质控样品的处理要求:样品需研磨至粒径≤0.100 mm
• 明确质控样应与待测样品基体匹配,推荐使用CRM(有证标准物质)进行校准

检出限:方法检出限为0.02%(以SiO₂计),定量限为0.05%

2. GB/T 14840-2010《工业硅化学分析方法》

适用范围:工业硅中硅含量的测定(Si≥98.5%),适用于冶金级、化学级工业硅

关联内容:

• 规定质控样需与待测样品具有相同物理状态(块状或粉状)
• 要求每批次检测至少插入2个质控样(标准物质)进行过程控制

测定范围:本方法适用于硅含量≥98.5%的样品,相对标准偏差应≤0.15%

3. YS/T 739-2010《硅质材料化学分析方法》

适用范围:高纯硅、多晶硅等硅质材料中杂质元素的测定

质控要求:

• 要求使用经CNAS认可的标准物质作为质控样
• 规定质控样需与待测样品同步进行消解处理

检出限:对痕量杂质的检出限可达0.1μg/g(ICP-MS法)

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