偏硅酸溶液标准物质/SL 91.1-1994_单标_无机类_标准物质_萘析商城

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偏硅酸溶液标准物质/SL 91.1-1994

BWZ6919-2016

Silicic acid standard solution

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14808-60-7

50mL

伟业计量

100μg/mL

见证书

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1+9盐酸溶液
SJRY41 | 1+9

一、基本信息：

基质	0.5%碳酸钠
形态	液态
有效期	2027-07-21
存储条件	冷藏（4±4）℃、密闭及避光条件下保存。使用前应恒温至（20±3）℃，并充分摇动以保证均匀。本标准物质打开后应尽快使用，使用中严格防止沾污。
用途	本标准物质可作为工作标准，用于日常分析和检测；也可用于检测方法评价和仪器校准等实验室质量控制。
别名	硅酸;偏硅酸;二氧化硅;水合硅酸
理化性质	密度：2.2～2.66 熔点：1670（鳞石英）,1710（方石英）。℃ 沸点：2230℃ 性状：白色或无色,含铁较高的是淡黄色。溶解情况：不溶于水和酸（除氢氟酸）。用途：微粒时能与熔融的碱类起作用。用于制玻璃、水玻璃、陶瓷、耐火材料、硅铁、型砂、单质硅等。制备或来源：自然界中分布很广,如石英、石英砂等。类别：氧化物
稀释方法

二、样品制备：

本标准物质采用纯度经准确定值的二氧化硅为溶质，以0.5%碳酸钠为溶剂，在室温（20±3）℃洁净实验室中采用重量-容量法配制而成。

三、溯源性及定值方法：

本标准物质的浓度标准值采用配制值，并用分光光度法法进行量值核验。通过使用满足计量学特性要求的制备方法、测量方法和计量器具，保证标准物质量值的溯源性。

四、特征量值及扩展不确定度：

序号	组分	标准值	扩展不确定度(k=2)	基体
1	偏硅酸	100μg/mL	3%	0.5%碳酸钠

五、均匀性检验及稳定性考察：

参照JJF1343 国家计量技术规范（等效ISO指南35），对分装后的样品进行随机抽样，采用紫外可见分光光度法对该标准物质进行均匀性检验和长期稳定性跟踪考察。结果表明：均匀性符合F检验规则，稳定性考察良好。

六、包装、储存及使用：

本标准物质采用白色塑料瓶包装,规格50mL携带或运输时应有防碎裂保护。

七、研制依据：

依据名称	依据编号	依据实施日期	下载
SL 91.1-1994 二氧化硅(可溶性)的测定 (硅钼黄分光光度法)	SL 91.1-1994	1995-05-01 00:00:00

八、参考资料：

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

商城编码	产品名称	标准值	规格	CAS号	有效期	库存	标准价
伟业计量 BWZ6598-2016	水中偏硅酸溶液标准物质/SL 91.1-1994	1000μg/mL	50mL	14808-60-7	2026-09-12	≥10	54
伟业计量 BWZ6816-2016	水中硅酸根溶液标准物质/SL 91.1-1994	100μg/mL	50mL	14808-60-7	2027-03-11	≥10	66
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伟业计量 BWZ6855-2016	二氧化硅溶液标准物质/SL 91.1-1994	100μg/mL	50mL	7631-86-9	2027-01-21	≥10	60
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伟业计量 BWB2332-2016	水中硅溶液标准物质/SL 91.1-1994	100μg/mL	50mL	7440-21-3	2027-08-29	≥10	60
伟业计量 BWZ7147-2016	水中硅酸根溶液标准物质/SL 91.1-1994	1000mg/L	50mL	14808-60-7	2027-01-21	≥10	66
伟业计量 BWZ7320-2016	二氧化硅溶液标准物质/SL 91.1-1994	50mg/L	50mL	7631-86-9	2026-04-28	≥10	60
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伟业计量 BWZ7675-2016	水中偏硅酸溶液标准物质/SL 91.1-1994	100μg/mL	100mL	14808-60-7	2026-01-08	1	96
伟业计量 BWB2663-2016	水中硅溶液标准物质/SL 91.1-1994	1000μg/mL	100mL	7440-21-3	2026-08-21	7	108
伟业计量 BWZ7313-2016	水质二氧化硅（标样）/WYJLBZ-0011/SL 91.1-1994	0.50μg/mL	20mL	7631-86-9	2027-04-27	≥10	48
伟业计量 BWZ7732-2016	二氧化硅检测配套试剂（SL 91.1-1994）(硅钼黄分光光度法)	4组分	4支/套			0	240

HG/T 2568-2021 工业偏硅酸钠

适用范围	适用于工业用偏硅酸钠的质量控制及检测，涵盖生产、加工和应用环节的化学指标要求[1][2]
核心检测方法	1. 钠含量测定：火焰原子吸收光谱法 2. 二氧化硅含量测定：重量法（盐酸脱水法）[1][2]
检出限与定量限	钠离子检测限：0.1 mg/L（AAS法）二氧化硅定量限：0.5%（重量法）[6]
质控样品要求	1. 每批次需平行测定3组样品 2. 使用有证标准物质进行校准（如GBW系列硅酸盐标准）[1][2]
关键实验步骤	1. 样品前处理：105℃烘干至恒重后研磨过200目筛 2. 盐酸脱水法需控制蒸发温度在110±5℃，脱水时间≥1小时[1][6]
特别说明	检测过程中需避免使用玻璃器皿，推荐使用聚乙烯或聚四氟乙烯材质实验器具[6]

SN/T 2042-2008 纳米偏硅酸钙检验规程

适用范围	进出口纳米级偏硅酸钙的物理化学特性检测，包括粒径分布、比表面积等专项指标[1][2]
核心检测方法	1. 粒径分析：动态光散射法（DLS） 2. 晶体结构测定：X射线衍射法（XRD）[2]
检出限与定量限	纳米粒径检测范围：10-1000 nm（DLS法） XRD定量相分析误差：≤5%[2]
质控样品要求	1. 需提供原始纳米粉体分散状态电子显微镜图像 2. 每20个样品插入1个标准参照样（NIST SRM 1898）[2]
关键实验步骤	1. 样品分散：超声处理30分钟（功率≥200W） 2. XRD测试需控制扫描速率为2°/min（2θ范围5°-80°）[2]
特别说明	纳米样品检测需在洁净室环境（≥ISO 5级）中进行，防止外界颗粒污染[2]

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