纳米孔二氧化硅比表面积、孔容和孔径标准物质_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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纳米孔二氧化硅比表面积、孔容和孔径标准物质

GBW13908

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萘析精选

见证书

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纳米孔二氧化硅比表面积、孔容和孔径标准物质介绍：

特征形态：固态
定级证书量值信息：

	标准值	相对不确定度(%)	单位
总孔容	0.656	3.1	cm³/g
比表面积	545	2.4	m²/g
平均孔径	4.81	1.7	nm
BJH最可几孔径	5.60	1.1	nm

研制单位名称：国家纳米科学中心

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

气体吸附BET法测定固态物质比表面积

标准名称	气体吸附BET法测定固态物质比表面积
适用范围	适用于纳米孔材料、催化剂等多孔固态物质的比表面积测定，涵盖孔径1-100 nm范围
核心检测方法	低温氮气吸附法，基于BET多层吸附理论计算比表面积
检出限与定量限	比表面积检测限≥0.1 m²/g，定量下限为0.5 m²/g（需满足相对误差≤5%）
质控样品要求	需使用经认证的标准物质（如NIST SRM 1898）进行仪器校准，平行样偏差需＜3%
关键实验步骤	样品预处理（200℃脱气4小时）、吸附等温线测定、BET线性区间选择（P/P0范围0.05-0.35）
特别说明	微孔材料需结合t-plot或DFT方法修正，超低比表面积样品建议使用氪气吸附

GB/T 21650.3-2011 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布

标准名称	压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布
适用范围	纳米孔材料、陶瓷等无机多孔材料的孔径分布分析，涵盖2-500 nm范围
核心检测方法	气体吸附法（BJH理论）与压汞法联用，分别测定中孔和大孔分布
检出限与定量限	孔径检测下限2 nm（气体吸附法），定量下限5 nm（RSD≤10%）
质控样品要求	需使用孔径标准物质（如CRM BAM-PM-101）验证仪器性能，重复性偏差＜5%
关键实验步骤	样品脱气处理（真空度≤10 Pa）、吸附-脱附等温线测定、滞后环分析
特别说明	孔径分布计算需明确吸附分支或脱附分支选择原则，介孔材料优先采用脱附支

HG/T 4688-2014 纳米孔二氧化硅材料测试方法

标准名称	纳米孔二氧化硅材料测试方法
适用范围	专门针对二氧化硅基纳米孔材料的比表面积、孔容及孔径表征
核心检测方法	氮气吸附法结合DFT模型，特别规定二氧化硅表面羟基化处理要求
检出限与定量限	孔容检测限0.05 cm³/g，孔径分布分辨率≥1 nm（需满足三峰标样验证）
质控样品要求	必须使用同批次空白样进行背景扣除，标准物质测量值需在证书不确定度范围内
关键实验步骤	样品预处理温度控制（150±5℃）、平衡时间设置（每压力点等待≤120秒）
特别说明	强调硅烷化处理对介孔结构的影响评估，要求实验报告中注明预处理条件

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！