纯铜光谱分析标准物质_单标_基质类_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

纯铜光谱分析标准物质

GBW(E)020328

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

萘析精选

见证书

猜您喜欢

纯铜光谱分析标准物质介绍：

特征形态：固态
定值单位：深圳双易达检测技术有限公司
定级证书量值信息：

	标准值	扩展不确定度（k=2）	单位	CAS
Pb	0.0049	0.0002	质量分数(×10^-2)	7439-92-1
Fe	0.0078	0.0003	质量分数(×10^-2)	7439-89-6
Bi	0.0045	0.0003	质量分数(×10^-2)	7440-69-9
Sb	0.00026	0.00008	质量分数(×10^-2)	7440-36-0
As	0.0058	0.0003	质量分数(×10^-2)	7440-38-2
Sn	0.0052	0.0003	质量分数(×10^-2)	7440-31-5
Ni	0.0054	0.0003	质量分数(×10^-2)	7440-02-0
Zn	0.0046	0.0002	质量分数(×10^-2)	7440-66-6
P	0.0070	0.0003	质量分数(×10^-2)	7723-14-0
S	0.0050	0.0003	质量分数(×10^-2)	7704-34-9
Ag	0.0046	0.0002	质量分数(×10^-2)	7440-22-4
Si	0.0043	0.0003	质量分数(×10^-2)	7440-21-3
Mn	0.0045	0.0002	质量分数(×10^-2)	7439-96-5
Cd	0.0011	0.0001	质量分数(×10^-2)	7440-43-9
Co	0.0056	0.0002	质量分数(×10^-2)	7440-48-4
Cr	0.0080	0.0004	质量分数(×10^-2)	7440-47-3
Se	0.0043	0.0002	质量分数(×10^-2)	7782-49-2
Te	0.0033	0.0002	质量分数(×10^-2)	13494-80-9

研制单位名称：深圳双易达检测技术有限公司

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

GB/T 5121.1-2023 铜及铜合金化学分析方法第1部分：火花原子发射光谱法

标准名称	火花原子发射光谱法测定铜及铜合金中元素含量
适用范围	适用于纯铜及铜合金中铜、铅、铁、镍等20余种元素的定量分析，元素含量范围0.0005%~10%。
核心检测方法	采用火花光源激发样品，通过原子发射光谱仪采集特征谱线强度，结合标准曲线进行定量分析。
检出限与定量限	检出限为0.0001%~0.001%（视元素而定），定量限为检出限的3倍。
质控样品要求	需使用有证标准物质，元素含量覆盖待测样品范围，均匀性偏差≤5%。
关键实验步骤	样品表面打磨至镜面、仪器预燃时间≥20秒、光路校准、标准曲线拟合R²≥0.999。
特别说明	高纯度铜分析需使用氩气保护，避免氧化层干扰；痕量元素检测时需延长积分时间。

YS/T 1037-2015 高纯铜化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法

标准名称	高纯铜中杂质元素的ICP-AES测定
适用范围	适用于99.99%以上高纯铜中砷、锑、铋等18种痕量杂质的检测，含量范围0.00005%~0.005%。
核心检测方法	样品酸溶解后，使用ICP-AES测定，采用基体匹配法消除基体效应。
检出限与定量限	检出限≤0.00003%，定量限≤0.0001%（不同元素差异≤20%）
质控样品要求	需含基体匹配的系列标准溶液，稳定性验证RSD＜3%（n=6）
关键实验步骤	超纯酸消解（HNO₃:HF=3:1）、雾化器流量优化、背景校正点选择≥3个
特别说明	实验室环境需达到万级洁净度，所有试剂需经亚沸蒸馏纯化处理

GB/T 3884.1-2020 铜精矿化学分析方法第1部分：X射线荧光光谱法

标准名称	X射线荧光光谱法测定铜精矿主次成分
适用范围	适用于铜含量15%~50%的铜精矿中Cu、Fe、S等主量元素的快速检测
核心检测方法	粉末压片制样，X射线荧光光谱仪测定，采用经验系数法校正基体效应
检出限与定量限	主量元素定量限≤0.1%，检出限≤0.03%
质控样品要求	粒度≤75μm，压片压力≥30吨并保持30秒
关键实验步骤	样品研磨至-200目、烘样温度105℃±2℃、真空光路系统维护
特别说明	硫元素检测需采用He气氛，铜的Kα谱线需进行重叠干扰校正

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！