滤膜中银分析质控样HJ 657-2013_单标_基质类_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

滤膜中银分析质控样HJ 657-2013

MCS-16368

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

3片/套

萘析精选

见产品详情

见证书

猜您喜欢

银
S434844-5g | ≥99% metals basis, nanopowder,＜150nm particle size,containing rosin dispersant
滤膜中铬分析质控样HJ 657-2013
MCS-16336 | 见产品详情
银
S24272-100g | 3N，200目
银
S24272-25g | 3N，200目
H-7
R151252-25mg | 98%

1. 基本信息

2. 特性量值

3. 说明

本质控样仅供实验室研究与分析测试工作使用，因用户使用或储存不当所引起的投诉，不予承担责任。

收到后请立即核对品种、数量和包装，相关赔偿只限于样品本身，不涉及其他任何损失。

如需获得更多与使用有关的信息，请与客服联系。

可提供大包装样品或定制服务，量大优惠，请添加客服企业微信或拨打400电话进行咨询。

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

HJ 657-2013 滤膜中银的分析方法质控样技术规定

适用于环境空气、废气及类似基质中银的滤膜样品分析，涵盖实验室质控样的制备、检测及数据质量控制。

采用原子吸收光谱法（AAS）或电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS），优先选择ICP-MS以提高灵敏度和抗干扰能力。

AAS法检出限为0.02 μg/m³，定量限0.08 μg/m³；ICP-MS法检出限为0.005 μg/m³，定量限0.02 μg/m³。

质控样需与实际样品基质一致，银含量覆盖检测范围，均匀性偏差≤5%，稳定性≥6个月，且需提供不确定度评估报告。

1. 滤膜前处理（酸消解或微波消解）
2. 仪器校准与空白对照
3. 样品测定与平行样分析
4. 数据修约与结果验证。

避免使用含银试剂污染样品；高盐基质需采用干扰校正模式；实验室需定期参与能力验证以确保方法一致性。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！