0.2微米羧基修饰微粒
-
0.3微米羧基修饰微粒
HM3105 | 10%
-
0.2微米羧基修饰微粒
HM3104 | 10%
-
0.4微米羧基修饰微粒
HM3107 | 10%
-
2微米羧基修饰微粒
HM3113 | 10%
-
0.5微米羧基修饰微粒
HM3109 | 4%
-
0.2微米羧基修饰微粒
HM3102 | 10%
-
0
ZB-500384 | 0.95
-
0.2微米羧基修饰微粒
HM3104 | 10%
-
0.8微米羧基修饰微粒
HM3111 | 4%
-
2微米羧基修饰微粒
HM3113 | 10%
-
0.2微米羧基修饰微粒
HM3102 | 10%
-
0
ZB-500384 | 0.95
-
玻璃微珠粒度标准物质
BW033065 | 65μm
-
玻璃微珠粒度标准物质
BW033055 | 55μm
-
玻璃微珠粒度标准物质
BW033035 | 35μm
-
偏硅酸溶液标准物质(以H2SiO3计)
SDS134951 | 1000μg/mL)
-
铂钴色度溶液标准物质
BW013329 | 15度



货号:HM3103
CAS号:
规格:15mL
浓度:10%
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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用,不用于人体及临床诊断。
GB/T 33243-2016 纳米技术 羧基化修饰纳米颗粒检测与表征方法
适用于粒径范围在10-500 nm的羧基修饰纳米颗粒的物理化学性质检测,包括粒径分布、表面修饰度及分散稳定性分析。
1. 动态光散射法(DLS)测定流体力学直径
2. 红外光谱法(FTIR)验证羧基官能团
3. Zeta电位法评估表面电荷稳定性
4. 透射电镜(TEM)观察形貌与分散状态
• 动态光散射:最小检测浓度0.1 mg/L(粒径>50 nm)
• 红外光谱:羧基特征峰信噪比≥3:1时为有效检出
• Zeta电位:测量误差需控制在±5 mV以内
1. 平行样品数量≥3组
2. 标准物质相对标准偏差(RSD)≤5%
3. 需包含空白对照及已知浓度校准品
4. 样品保存条件:4℃避光,有效期30天
1. 样品前处理:超声分散15分钟(功率100W)
2. DLS测量前需用200 nm滤膜过滤
3. FTIR检测时背景扣除必须使用同批溶剂
4. TEM制样需控制载网干燥速度
1. 羧基密度检测需结合XPS表面元素分析
2. 生物相容性测试须参照GB/T 16886系列标准
3. 实验废弃物按HJ 564-2010危险废物分类处置
以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!