0.2微米羧基修饰微粒_颗粒_物性_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

0.2微米羧基修饰微粒

HM3104

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

15mL

海岸鸿蒙

10%

猜您喜欢

0.2微米羧基修饰微粒介绍：

货号：HM3104
CAS号：
规格：15mL
浓度：10%

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号

标准名称	纳米技术羧酸根表面修饰纳米颗粒的测定傅里叶变换红外光谱法
标准号	GB/T 33243-2016

适用范围

本方法适用于通过傅里叶变换红外光谱（FTIR）对表面修饰羧酸根的纳米颗粒（粒径范围1-500 nm）进行定性或半定量分析，包括实验室研发及质量控制中的表面化学表征。

核心检测方法

1. 样品制备：将微粒分散于溴化钾压片或直接涂覆于ATR晶体表面。
2. 光谱采集：在4000-400 cm⁻¹波数范围内扫描，分辨率不低于4 cm⁻¹。
3. 数据分析：通过特征峰（如羧酸根C=O伸缩振动峰~1700 cm⁻¹）判定表面修饰效果。

检出限与定量限

检出限：羧酸根官能团含量≥0.1%（质量分数）
定量限：需结合标准曲线法，建议含量≥1%时进行半定量分析。

质控样品要求

1. 空白对照：未修饰的同基质微粒。
2. 标准物质：含已知羧酸根修饰量的同类纳米颗粒（如0.5%、2%、5%梯度）。
3. 重复性要求：同一样品三次测量峰面积相对标准偏差（RSD）≤10%。

关键实验步骤

1. 仪器校准：每日实验前用聚苯乙烯标准片验证波数精度（偏差≤±4 cm⁻¹）。
2. 背景扣除：采集样品光谱前需扣除空气背景或溶剂干扰。
3. 基线校正：采用多点基线法消除非特征吸收干扰。

特别说明

1. 样品需充分干燥以避免水分羟基峰干扰（建议真空干燥处理）。
2. 高浓度样品可能导致光谱信号饱和，建议通过稀释或减少压片厚度调节。
3. 本方法不适用于非晶态或表面修饰层厚度＜1 nm的微粒体系。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！