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固体废物中镓、锗、铟、铷、铼质控样品/HJ 874-2017_
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固体废物中镓、锗、铟、铷、铼质控样品/HJ 874-2017

SHAM_233948 Gallium, germanium, indium, rubidium, rhenium QC in solid waste {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 40g/瓶 {{goodObj.date}} 伟业计量 {{item.norm}} 5组分 {{inventory}} 见证书
一、基本信息:
基质固体废物
形态固态
有效期2027-06-03
存储条件常温密闭及避光条件下保存。使用前应恒温至(20±3)℃,充分混匀,最小取样量为0.5g。本质控样品一旦开封应尽快使用,避免样品相关特性发生变化,使用中严格防止沾污。
用途本质控样品可作为工作标准,用于日常分析和检测;也可用于检测方法评价和仪器校准等实验室质量控制。
别名
理化性质
稀释方法
二、样品制备:
本标准物质选择经筛查的固体废物为基体,经过风干、去杂、研磨、混匀、过筛、灭菌而成。
三、溯源性及定值方法:
本质控样品以测量值作为浓度标准值,并采用电感耦合等离子体原子发射光谱法进行量值核验。通过使用满足计量学特性要求的制备、测量方法和计量器具,保证质控样品量值的溯源性。
四、特征量值及扩展不确定度:
序号 组分 标准值 扩展不确定度(k=2) 基体
1270mg/kg40mg/kg固体废物
2271mg/kg40mg/kg固体废物
3255mg/kg40mg/kg固体废物
4194mg/kg20mg/kg固体废物
5276mg/kg36mg/kg固体废物
五、均匀性检验及稳定性考察:
参照JJF1343 国家计量技术规范(等效ISO指南35),对分装后的样品进行随机抽样,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对该标准物质进行均匀性检验和长期稳定性跟踪考察。结果表明:均匀性符合F检验规则,稳定性考察良好。
六、包装、储存及使用:
本标准物质采用白色塑料瓶包装,规格40g/瓶携带或运输时应有防碎裂保护。
七、研制依据:
依据名称 依据编号 依据实施日期 下载
HJ 874-2017 固体废物 丙烯醛、丙烯腈和乙腈的测定 顶空-气相色谱法(发布稿)HJ 874-20172018-01-01 00:00:00下载
八、参考资料:

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商城编码 产品名称 标准值 规格 CAS号 有效期 库存 标准价 数量 操作
1000μg/mL
2.0mL
2026-07-04
≥10
350
质控见证书
2.0mL
2026-07-04
≥10
300
2000μg/mL
2.0mL
2026-07-04
8
430
2000ug/ml
2ml
2026-01-22
≥10
400
100μg/mL
20mL
2027-03-23
3
40
4.79
220g
2026-08-22
3
360
500mg/L
1.2mL
0
300
1000
1.2mL
0
350
2000μg/mL
1mL
0
400
100mg/L
1.2mL
0
200
20mg/L
1.2mL
0
200
1000ug/ml
2ml
0
310
44.2mg/L
2ml
0
240
100μg/mL
20mL
0
40
100μg/mL
20mL
0
40
100μg/mL
20mL
0
40
100μg/mL
20mL
0
40
2000μg/mL
1mL
0
408
2000µg/mL
1mL
0
315
标准名称及标准号
HJ 781-2016《固体废物 22种金属元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》
适用范围
适用于固体废物和固体废物浸出液中镓、锗、铟、铷、铼等金属元素的测定,检测范围覆盖0.01 mg/kg~1000 mg/kg。
核心检测方法
样品经酸消解或浸提后,采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)进行定量分析,通过特征谱线强度与标准曲线比对确定元素含量。
检出限与定量限
镓(Ga)检出限0.05 mg/kg、定量限0.2 mg/kg;锗(Ge)检出限0.1 mg/kg、定量限0.3 mg/kg;铟(In)检出限0.02 mg/kg、定量限0.07 mg/kg;铷(Rb)检出限0.1 mg/kg、定量限0.3 mg/kg;铼(Re)检出限0.01 mg/kg、定量限0.03 mg/kg。
质控样品要求
质控样品需包含目标元素且在标准物质证书量值范围内,每批次检测需至少插入2个平行质控样,相对偏差应≤15%;加标回收率应控制在80%~120%。
关键实验步骤
1. 样品预处理:固体废物需经105℃烘干后粉碎过100目筛;
2. 酸消解:采用硝酸-氢氟酸-过氧化氢体系微波消解;
3. 仪器分析:选择元素最佳分析谱线(如Ga 294.364 nm、Ge 265.118 nm),校正光谱干扰;
4. 数据校准:每10个样品插入标准曲线中间点验证。
特别说明
锗元素易挥发,消解温度需严格控制≤180℃;铼在低浓度时易受钼干扰,需使用碰撞反应池技术或数学校正消除干扰。

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