碲化锡粒99.99%
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金丝99.999%
NCS157 | 见证书
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替卡西林二钠标准品/WYJLBZ-0004
BWJ6182-2016 | 96.8%
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土壤中锂分析质控样品
NCS192129 | 见证书
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土壤中苯胺、联苯胺分析质控样品
NCS192125 | 见证书
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土壤中亚硝酸盐氮分析质控样品
NCS192098 | 见证书



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GB/T 26014-2010《高纯锡化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》
适用于高纯锡(纯度≥99.99%)中痕量杂质元素的测定,包括:
- 可检测锂、铍、硼等60+种金属/非金属杂质元素
- 特别适用于碲化锡中锑、砷、镉等关键杂质分析
- 样品形态包括块状、颗粒状等固体形态
辉光放电质谱法(GD-MS)技术要点:
1. 样品制备:将碲化锡颗粒压制成电极
2. 辉光放电:在0.1-1kPa氩气氛围中产生等离子体
3. 离子化:溅射产生的原子在等离子体中离子化
4. 质谱分析:通过四极杆质谱仪分离检测离子
- 典型元素检出限:0.001~0.1 μg/g
- 定量限(LOQ):0.01~1 μg/g(元素依赖)
- 碲化锡中关键杂质测定范围:
• 锑(Sb):0.05-100 μg/g
• 砷(As):0.03-100 μg/g
• 铁(Fe):0.1-200 μg/g
1. 标准物质:需使用有证高纯锡标准物质(CRM)
2. 平行样:每批次≥2个平行样品
3. 空白控制:每批同步进行仪器空白和制备空白
4. 精密度要求:RSD≤15%(浓度>10×LOQ时)
1. 样品前处理:
- 超净环境(Class 1000)下处理样品
- 使用高纯硝酸(1+1)清洗表面
2. 仪器参数优化:
- 放电电流:2-5 mA
- 氩气流量:300-500 mL/min
3. 质量校正:
- 使用锡同位素峰进行质量轴校正
- 分辨率设置:m/Δm ≥ 400
1. 碲干扰处理:需校正碲的多原子离子干扰
- 例如:¹²⁸TeH⁺对¹²⁹I⁺的干扰
2. 表面污染控制:
- 前30分钟数据不作为定量依据
- 需进行深度剖面分析
3. 适用于99.99%纯度碲化锡的杂质分析
4. 不适用于主量元素(锡、碲)含量测定
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