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纯钴光谱分析质控样品_
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纯钴光谱分析质控样品

NCS025201 {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 Ф38mm×20mm {{goodObj.date}} 钢研纳克 {{item.norm}} 见证书 {{inventory}}
纯钴光谱分析质控样品介绍:

产品组成:
编号CSiMnPSCrNiCuTiMo
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编号VPbAsAlNbBSnWZrFe
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编号LaTaCo
NCS0252010.000010.0000199.987

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手机版:纯钴光谱分析质控样品

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GB/T 20125-2006 低合金钢 多元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
标准名称及标准号

GB/T 20125-2006《低合金钢 多元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

适用范围

适用于低合金钢中钴(Co)、铜(Cu)、锰(Mn)、钼(Mo)、镍(Ni)等元素的测定,其中钴元素的质量分数范围为0.003%~1.50%。纯钴质控样品可参照此方法进行光谱分析。

核心检测方法

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES):样品经酸溶解后形成溶液,经雾化器导入等离子体炬管,在6000~10000K高温下激发,通过测量钴元素特征谱线强度(推荐波长228.616nm或238.892nm)进行定量分析。

检出限与定量限

钴元素检出限(LOD)为0.001 mg/L,定量限(LOQ)为0.003%(质量分数)。实际限值需通过空白样品11次重复测定标准偏差的3倍(LOD)和10倍(LOQ)验证。

质控样品要求

1. 基体匹配:纯钴质控样品需与待测样品基体一致
2. 定值要求:提供可溯源的钴元素认证值及不确定度
3. 均匀性:粒径≤100μm,均匀性检验RSD≤2%
4. 稳定性:有效期≥12个月,避光干燥保存

关键实验步骤

1. 样品前处理:称取0.1g纯钴样品,用5mL王水(HCl:HNO₃=3:1)溶解
2. 定容稀释:转移至100mL容量瓶,用2%硝酸定容
3. 仪器校准:采用钴标准溶液系列(0、0.5、1.0、5.0mg/L)建立校准曲线
4. 光谱测定:等离子体功率1.2~1.5kW,观测高度12~15mm,氩气流量15L/min
5. 质控样同步测试:每10个样品插入1个质控样验证准确性

特别说明

1. 光谱干扰处理:需用背景校正或干扰系数法消除Fe、Ni等元素的谱线干扰
2. 酸度控制:溶液硝酸浓度需保持2%~5%,防止雾化器堵塞
3. 质控标准:质控样测定值应在认证值±3SD范围内,否则需重新校准
4. 安全防护:操作浓酸时需在通风橱中进行,佩戴防腐蚀护具

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!