纯钴光谱分析质控样品
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纯铁成分分析质控样品
NCS201191 | 见证书
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镍铁合金光谱分析质控样品
NCS016035 | 见证书
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镍铁合金光谱分析质控样品
NCS016035b | 见证书
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纯铁光谱分析质控样品
NCS010034 | 见证书
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光谱控制样品
NCS-RH18 | 见证书
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镍铁合金光谱分析质控样品
NCS016035a | 见证书
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硫质控样品
GBQC(E)01-0048 | 4.5mg/L
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硅质控样品
GBQC(E)01-0049 | 4.5mg/L
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钴
R217774-100g | ≥99.99% metals basis ,granular
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纯铁光谱分析质控样品
NCS010034 | 见证书
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光谱控制样品
NCS-RH18 | 见证书
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钴
R217774-5g | ≥99.99% metals basis ,granular
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金丝99.999%
NCS157 | 见证书
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替卡西林二钠标准品/WYJLBZ-0004
BWJ6182-2016 | 96.8%
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土壤中锂分析质控样品
NCS192129 | 见证书
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土壤中苯胺、联苯胺分析质控样品
NCS192125 | 见证书
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土壤中亚硝酸盐氮分析质控样品
NCS192098 | 见证书



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GB/T 20125-2006《低合金钢 多元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》
适用于低合金钢中钴(Co)、铜(Cu)、锰(Mn)、钼(Mo)、镍(Ni)等元素的测定,其中钴元素的质量分数范围为0.003%~1.50%。纯钴质控样品可参照此方法进行光谱分析。
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES):样品经酸溶解后形成溶液,经雾化器导入等离子体炬管,在6000~10000K高温下激发,通过测量钴元素特征谱线强度(推荐波长228.616nm或238.892nm)进行定量分析。
钴元素检出限(LOD)为0.001 mg/L,定量限(LOQ)为0.003%(质量分数)。实际限值需通过空白样品11次重复测定标准偏差的3倍(LOD)和10倍(LOQ)验证。
1. 基体匹配:纯钴质控样品需与待测样品基体一致
2. 定值要求:提供可溯源的钴元素认证值及不确定度
3. 均匀性:粒径≤100μm,均匀性检验RSD≤2%
4. 稳定性:有效期≥12个月,避光干燥保存
1. 样品前处理:称取0.1g纯钴样品,用5mL王水(HCl:HNO₃=3:1)溶解
2. 定容稀释:转移至100mL容量瓶,用2%硝酸定容
3. 仪器校准:采用钴标准溶液系列(0、0.5、1.0、5.0mg/L)建立校准曲线
4. 光谱测定:等离子体功率1.2~1.5kW,观测高度12~15mm,氩气流量15L/min
5. 质控样同步测试:每10个样品插入1个质控样验证准确性
1. 光谱干扰处理:需用背景校正或干扰系数法消除Fe、Ni等元素的谱线干扰
2. 酸度控制:溶液硝酸浓度需保持2%~5%,防止雾化器堵塞
3. 质控标准:质控样测定值应在认证值±3SD范围内,否则需重新校准
4. 安全防护:操作浓酸时需在通风橱中进行,佩戴防腐蚀护具
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