高镍生铁光谱分析质量控制样品_纯品_无机类_标准物质_萘析商城

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高镍生铁光谱分析质量控制样品

NCS010036b

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Φ38×35mm

钢研纳克

见证书

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高镍生铁光谱分析质量控制样品介绍：

产品组成：

编号	C	Si	Mn	P	S	Cr	Ni	Cu	Ti	Mo
NCS010036b	1.3300	0.0640	0.0670	0.0470	0.2700	0.4500	11.4700	0.0059	0.0012	0.0007

编号	V	Alt	Co
NCS010036b	0.0019	0.0340	0.4040

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号

GB/T 223.79-2007 《钢铁多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法（常规法）》

适用范围

适用于高镍生铁中镍、铬、锰等15种元素的测定，镍含量检测范围为0.01%～35%，特别适合高镍生铁（Ni＞5%）的快速分析

核心检测方法

波长色散X射线荧光光谱法（WD-XRF）

1. 使用晶体分光系统分离特征X射线

2. 通过探测器测量元素特征谱线强度

3. 采用标准物质建立校准曲线定量分析

检出限与定量限

镍元素：检出限0.003%，定量限0.01%

铬元素：检出限0.002%，定量限0.006%

锰元素：检出限0.001%，定量限0.003%

质控样品要求

1. 需包含高镍基体（Ni＞10%）的CRM标准物质

2. 元素含量应覆盖待测样品范围（建议3个梯度）

3. 均匀性：粒度≤60μm，成分偏析≤0.5%RSD

4. 稳定性：有效期≥24个月

关键实验步骤

1. 样品制备：生铁样品研磨至200目（75μm），压片成型

2. 仪器校准：使用高镍生铁CRM标准物质建立工作曲线

3. 光谱采集：真空环境下测量Ni-Kα（7.47keV）特征谱线

4. 基体校正：采用Lucas-Tooth模型校正铁基体效应

5. 结果验证：每10个样品插入质控样核查

特别说明

1. 高镍样品需特别注意碳化物的析出干扰，建议添加0.5%硼酸助熔剂

2. 镍含量＞20%时，需启用高阶谱线校正程序

3. 检测室湿度必须控制在＜40%RH，防止样品氧化

4. 仪器需每4小时用监控样验证稳定性（允许偏差≤0.15%）

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！