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 固体废物中锑分析标准物质 _
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固体废物中锑分析标准物质

RMH-G177 {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 50g/瓶 {{goodObj.date}} 萘析精选 {{item.norm}} 见证书 {{inventory}} 见证书 常温运输

量值基本信息:

  • 商品名称: 固体废物中锑分析标准物质
  • 商品编号: RMH-G177
  • 规格:: 50g/瓶
  • 形态:: 粉末
  • 基体:: 固体废物
  • 库存:: 300
  • 有效期限:: 2023/04-2026/03
  • 货期:: 现货

编号

特性量

标准值(mg/kg

扩展不确定度(mg/kg

RMH-G177

37.6

5.6

产品详细信息:

本标准物质对固体废物的研究和监控具有重要意义,可用于农业、地质、环保等领域相关分析测试中方法精密度评价、仪器校准及过程中质量控制。

一、样品制备

本标准物质选择经筛查的含锑的固体废物为基体,在制备过程中经风干、去杂质、粉碎高速混合等特殊均质化手段,经低温干燥后将样品在洁净室分装于聚乙烯瓶中Co60辐射灭菌避光保存。

二、特性量值及不确定度

编号

特性量

标准值(mg/kg

扩展不确定度(mg/kg

RMH-G177

37.6

5.6

本标准物质特性量值的不确定度评定中主要考虑多家实验室联合定值引入的不确定度分量、标准物质均匀性检验和稳定性检验引入的不确定度分量。

三、均匀性检验和稳定性考察

参照国家相关标准技术规范要求,随机抽取分装后的标准物质样品,按照国家标准GB/T36690-2018《工业废液处理污泥中铜、镍、铅、锌、镉、铬等26种元素含量测定方法》和行业标准HJ832-2017《土壤和沉积物金属元素总量的消解微波消解法》规定的微波消解-电感耦合原子发射光谱法(ICP-OES进行均匀性和稳定性检验,最小取样量为0.5g。结果表明,该系列标准物质均匀性、稳定性良好。该标准物质自定值日期起,有效期暂定3年。研制单位将继续跟踪检测该标准物质的稳定性,有效期内如发现量值变化,将及时通知用户。

四、溯源性及定值方法

本标准物质采用多实验室联合定值方式进行赋值。定值方法为微波消解-电感耦合原子发射光谱法(ICP-OES)测定,通过使用满足计量学特性要求的测量方法和计量器具,保证标准物质特性量值的溯源性。

.  包装、储存及使用

本标准物质以聚乙烯瓶封装,每瓶50g 在避光、清洁、室温处保存;打开和使用过程中严格防止玷污。规定最小取样量为0.5g,使用时请不要低于该取样量。   

.  安全警示

该标准物质为有害粉尘物质,另外称量时防止静电。使用时应注意防护,戴口罩、手套,避免与口或直接与皮肤接触。

以上信息仅供参考,请以实物批次为准!

涉及的标准及详细解读

HJ 832-2017 《固体废物 金属元素的测定 电感耦合等离子体质谱法》

适用范围 本标准规定了固体废物中锑(Sb)等22种金属元素的测定方法,适用于固体废物及固体废物浸出液中金属元素的定量分析。
关联内容 • 方法原理:样品经酸消解后,通过电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定锑含量
• 干扰消除:需采用内标法(如铟、铑等)校正基体干扰和仪器漂移
• 前处理要求:样品需经硝酸-氢氟酸-过氧化氢体系微波消解或电热板消解
检出限 锑(Sb)的方法检出限为0.02 mg/kg(以干基计)

GB/T 36690-2018 《电子电气产品中限用物质筛选检测方法 X射线荧光光谱法》

适用范围 本标准规定了电子电气产品中锑(Sb)等限用物质的筛选检测方法,适用于固体废物中电子废弃物(如电路板、塑料部件)的快速筛查
关联内容 • 方法原理:采用X射线荧光光谱法(XRF)进行无损检测,结合酸消解-ICP-MS验证定量
• 干扰因素:样品不均匀性、表面镀层、基体效应可能影响结果准确性
• 适用对象:适用于锑含量≥0.1%的样品快速筛选,定量需结合化学分析法
检出限 XRF筛选法的锑(Sb)检出限为0.1%(即1000 mg/kg),化学分析法(如ICP-MS)的检出限为1 mg/kg

标准间差异说明

HJ 832-2017 侧重环境领域固体废物的痕量金属检测,灵敏度更高(0.02 mg/kg)
GB/T 36690-2018 针对电子废物中高含量锑的快速筛查,XRF法适用于现场初步判断

以上信息仅供参考,请以相应标准的原文为准!

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