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0.4微米羧基修饰微粒_
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0.4微米羧基修饰微粒

HM3107 {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 15mL {{goodObj.date}} 海岸鸿蒙 {{item.norm}} 10% {{inventory}}
0.4微米羧基修饰微粒介绍:

货号:HM3107
CAS号:
规格:15mL
浓度:10%

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国家标准GB/T 30701-2014 表面化学分析 粒子修饰层表征方法
标准名称及标准号 GB/T 30701-2014《表面化学分析 粒子修饰层表征方法》
适用范围 适用于表面修饰微粒(含羧基、氨基等官能团修饰)的化学组成与修饰层厚度表征
核心检测方法 X射线光电子能谱法(XPS)和红外光谱法(FT-IR)联用分析表面官能团
检出限与定量限 XPS元素检出限0.1at%,FT-IR官能团检测限100 nmol/m²
质控样品要求 需同步测试标准参比样品(如NIST SRM 1898羧基化粒子)进行仪器校准
关键实验步骤 1. 样品超声分散2. 真空干燥处理3. 多角度XPS扫描4. 红外背景扣除
特别说明 要求实验环境相对湿度≤40%,避免羧基基团发生水解反应
行业标准JJF 1610-2017 纳米粒子zeta电位测量规范
标准名称及标准号 JJF 1610-2017《纳米粒子zeta电位测量规范》
适用范围 适用于表面带电纳米粒子(含羧基修饰微粒)的电位测定
核心检测方法 电泳光散射法(ELS),测量频率范围10Hz-2MHz
关键实验步骤 1. 标准缓冲液配制(pH7.4)2. 样品电导率调节3. 温度平衡控制(25±0.5℃)
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