30nm二氧化硅粒度标准物质_颗粒_物性_标准物质_萘析商城

图片仅供参考，具体产品以实物为准！

30nm二氧化硅粒度标准物质

BW030106

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询

10mL

海岸鸿蒙

固含量1%

猜您喜欢

30nm二氧化硅粒度标准物质介绍：

货号：BW030106
CAS号：
规格：10mL
浓度：固含量1%

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

```

粒度分析光子相关光谱法

适用范围	适用于1 nm至3 μm范围内纳米颗粒的粒度分析，特别针对二氧化硅等无机纳米材料的分散体系检测。
核心检测方法	基于动态光散射原理，测量颗粒布朗运动引起的散射光强度波动，通过自相关函数计算流体力学直径。
检出限与定量限	体积浓度检测下限为0.001%（v/v），定量限为0.005%（v/v），最小可识别粒径为仪器噪声水平的2倍标准差。
质控样品要求	需使用经认证的纳米级单分散标样（如30±2 nm二氧化硅）进行仪器校准，样品折射率与分散介质差异需＞0.1。
关键实验步骤	1. 样品前处理：超声分散15分钟；2. 散射角设置为90°；3. 温度控制在25±0.5℃；4. 采集时间不少于180秒。
特别说明	对于多峰分布样品需增加173°散射角检测，高浓度样品需稀释至透光率＞85%后测量。

GB/T 29022-2012 粒度分布动态光散射法

适用范围	专门针对纳米材料（1-1000 nm）的粒度分布检测，适用于胶体溶液、乳浊液等液态分散体系。
核心检测方法	采用非侵入背散射光学系统，通过斯托克斯-爱因斯坦方程计算颗粒扩散系数，反演粒度分布。
检出限与定量限	数均直径检测限为仪器分辨率（通常3 nm），相对标准偏差要求≤2%（NIST标准物质验证）。
质控样品要求	每批次检测需包含空白对照和已知粒径的验证样品，建议使用30nm、100nm双标样进行系统验证。
关键实验步骤	1. 样品过滤（0.22 μm滤膜）；2. 粘度校正；3. 测量次数≥11次；4. 采用CONTIN算法进行数据解析。
特别说明	禁止使用离心预处理，对于Zeta电位＞±30 mV的样品需记录电泳迁移率数据。

GB/T 15445.2-2020 粒度分布的表示方法

适用范围	规定纳米材料粒度分布的数据处理规范，包括D10、D50、D90等特征参数的数学表征方法。
核心检测方法	要求采用体积分布加权算法，对于多模态分布必须提供峰分离度参数，并注明拟合优度（R²＞0.98）。
质控要求	粒度分布曲线的半峰宽不得超过标称值的15%，批次间D50值相对偏差应≤3%。
数据报告	必须包含：测量温度、介质黏度、分布模型（如Rosin-Rammler模型）、置信区间（95%概率）。

粒度分析激光衍射法

适用范围	适用于0.1-3000 μm颗粒测量，可作为纳米颗粒团聚状态的辅助表征手段。
方法对比	需与动态光散射法数据交叉验证，对于＜100 nm颗粒需注明米氏理论修正系数。

```

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！