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50nm二氧化硅粒度标准物质_
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50nm二氧化硅粒度标准物质

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50nm二氧化硅粒度标准物质介绍:

货号:BW030110
CAS号:
规格:10mL
浓度:固含量1%

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国家标准: 粒度分析 动态光散射法(DLS)
标准名称及标准号 GB/T 19627-2005《粒度分析 动态光散射法(DLS)》
适用范围 适用于液体介质中纳米级颗粒(1 nm~5 μm)的粒度分布测定,包括二氧化硅等无机纳米颗粒。
核心检测方法 动态光散射法(DLS):通过测量颗粒布朗运动引起的散射光波动,反演颗粒粒径分布。
检出限与定量限 检出限为1 nm,定量下限为10 nm(需仪器校准及样品浓度优化)。
质控样品要求 需使用经认证的粒度标准物质(如50 nm二氧化硅)进行仪器校准,样品分散均匀且浓度≤0.1% (w/w)。
关键实验步骤 1. 样品分散:超声处理确保无团聚;
2. 温度控制:25±0.5℃恒温;
3. 测量时间:单次≥120秒,重复3次取均值。
特别说明 高浓度或带电样品可能导致多重散射误差,需稀释或添加分散剂;结果报告中需注明测量温度及分散介质。
行业标准:JJF 1319-2011 激光粒度分析仪校准规范
标准名称及标准号 JJF 1319-2011《激光粒度分析仪校准规范》
适用范围 适用于动态光散射仪等激光粒度分析设备的校准,确保测量结果溯源性。
核心检测方法 使用标准物质(如50 nm二氧化硅)对仪器的重复性、分辨力、准确性进行校准验证。
校准周期 建议每12个月或仪器维修后校准,偏差>5%时需重新调整。

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