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20nm二氧化硅粒度标准物质

BW030104

~~{{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨询'}}~~

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10mL

海岸鸿蒙

固含量1%

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20nm二氧化硅粒度标准物质介绍：

货号：BW030104
CAS号：
规格：10mL
浓度：固含量1%

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国家标准解读：《粒度分析动态光散射法》

标准名称及标准号	GB/T 19627-2005《粒度分析动态光散射法》
适用范围	适用于1 nm至3 μm颗粒的粒度分析，包含二氧化硅纳米颗粒的分散体系。
核心检测方法	动态光散射法（DLS），通过测量颗粒布朗运动引起的散射光波动计算粒径分布。
检出限与定量限	检出限为1 nm，定量限为5 nm（需仪器灵敏度支持）。
质控样品要求	需使用有证标准物质（如20 nm二氧化硅），要求粒径分布均匀（PDI≤0.1），分散体系稳定。
关键实验步骤	1. 样品分散至透明无沉淀； 2. 仪器预热及背景噪声校准； 3. 多次测量取平均值。
特别说明	高浓度样品需稀释至透光率＞90%；温度控制精度需±0.1℃。

相关标准：GB/T 30449-2013《纳米二氧化硅》

标准名称及标准号	GB/T 30449-2013《纳米二氧化硅》
适用范围	规定纳米二氧化硅的技术指标及检测方法，包括粒度、比表面积等参数。
核心检测方法	透射电镜（TEM）法与动态光散射法并行，以TEM结果为基准值。
质控样品要求	需提供原始合成批次的TEM图像及XRD表征数据。

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